X線小角散乱法によるAuナノ粒子の粒径解析(C0613)

SAXSでは粒径や空孔径の統計的評価が可能です

概要

金属ナノ粒子は、直径数十nm以下の粒子を指します。このサイズの粒子はバルクの金属には見られない特異な性質を示すことが知られています。高い触媒性や表面プラズモン共鳴のような光学特性から、燃料電池の電極触媒やバイオセンサー等に用いられています。これらの特性を制御するためには、構造や組成等を把握する必要があります。今回はSAXS (X線小角散乱法) を用いて、Auナノ粒子分散溶液の粒径解析を実施した事例を紹介いたします。TEM とSAXSを相補的に用いることで信頼性の高い粒径解析を実施することが可能です。

データ

この分析事例のPDFファイルを開く X線小角散乱法によるAuナノ粒子の粒径解析

MST技術資料No.	C0613
掲載日	2020/07/30
測定法・加工法	［(S)TEM］（走査）透過電子顕微鏡法［SAXS］X線小角散乱法
製品分野	二次電池燃料電池化粧品その他
分析目的	形状評価

関連する分析事例

掲載日	タイトル	測定法・加工法	製品分野	分析目的
2024/08/29	酸化ガリウムGa2O3イオン注入ダメージ層の評価(C0718)	［(S)TEM］（走査）透過電子顕微鏡法［AFM］原子間力顕微鏡法［FIB］集束イオンビーム加工	パワーデバイス酸化物半導体	形状評価構造評価
2023/11/30	ノーマリーオフ型GaN HEMT二次元電子ガス層評価(C0702)	［SIMS］二次イオン質量分析法［(S)TEM］（走査）透過電子顕微鏡法［SCM］走査型静電容量顕微鏡法・［SNDM］走査型非線形誘電率顕微鏡法［SMM］走査型マイクロ波顕微鏡法	パワーデバイス	微量濃度評価形状評価構造評価製品調査
2022/07/07	X線回折・散乱技術を用いた高分子材料の階層構造評価(C0673)	［XRD］X線回折法［SAXS］X線小角散乱法	バイオテクノロジ医薬品化粧品日用品食品	構造評価製品調査
2021/02/11	二次電池負極SEI被膜の元素分布評価・化学状態評価(C0645)	［TOF-SIMS］飛行時間型二次イオン質量分析法［XPS］X線光電子分光法［SEM］走査電子顕微鏡法［(S)TEM］（走査）透過電子顕微鏡法［TEM-EELS］電子エネルギー損失分光法雰囲気制御下での処理	二次電池	化学結合状態評価組成分布評価形状評価膜厚評価構造評価製品調査
2021/01/14	毛髪断面の微細構造（S)TEM分析(C0643)	［(S)TEM］（走査）透過電子顕微鏡法［TEM-EDX］エネルギー分散型X線分光法（TEM）ウルトラミクロトーム加工その他	バイオテクノロジ医薬品化粧品日用品	組成評価・同定組成分布評価形状評価膜厚評価
2021/01/14	ネガティブ染色による(S)TEM観察事例(C0642)	［(S)TEM］（走査）透過電子顕微鏡法その他	医薬品化粧品日用品食品	形状評価製品調査
2020/11/26	電子染色を用いた高分子材料の(S)TEM観察(C0640)	［(S)TEM］（走査）透過電子顕微鏡法その他	日用品その他	形状評価その他
2020/07/30	二次電池正極活物質の局所領域評価(C0614)	［(S)TEM］（走査）透過電子顕微鏡法［TEM-EDX］エネルギー分散型X線分光法（TEM）［TEM-EELS］電子エネルギー損失分光法	二次電池	化学結合状態評価組成分布評価構造評価製品調査
2020/07/30	X線小角散乱法によるAuナノ粒子の粒径解析(C0613)	［(S)TEM］（走査）透過電子顕微鏡法［SAXS］X線小角散乱法	二次電池燃料電池化粧品その他	形状評価
2020/07/16	Xe-プラズマFIBによる構造解析(B0255)	［SEM］走査電子顕微鏡法［Slice&View］三次元SEM観察法［EBSD］電子後方散乱回折法［(S)TEM］（走査）透過電子顕微鏡法 X線CT法［FIB］集束イオンビーム加工その他	LSI・メモリ	形状評価構造評価故障解析・不良解析製品調査