分析事例

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分析事例一覧

イメージ 掲載日 タイトル 測定法・加工法 製品分野 分析目的
SEMI規格に準拠した ステンレス表面不動態膜の評価 2020/07/23 SEMI規格に準拠した ステンレス表面不動態膜の評価(C0612) [AES]オージェ電子分光法
[XPS]X線光電子分光法
その他
製造装置・部品
組成評価・同定
化学結合状態評価
組成分布評価
膜厚評価
二次電池セパレータの構造評価 2020/07/09 二次電池セパレータの構造評価(C0604) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
[XPS]X線光電子分光法
[SEM]走査電子顕微鏡法
[FT-IR]フーリエ変換赤外分光法
二次電池
組成評価・同定
化学結合状態評価
組成分布評価
形状評価
構造評価
製品調査
XPSによるSn表面の状態評価 2020/07/02 XPSによるSn表面の状態評価(C0603) [XPS]X線光電子分光法
電子部品
酸化物半導体
化学結合状態評価
その他
切断加工を併用した金属配管内壁のXPS分析 2020/07/02 切断加工を併用した金属配管内壁のXPS分析(C0602) [XPS]X線光電子分光法
製造装置・部品
組成評価・同定
化学結合状態評価
故障解析・不良解析
劣化調査・信頼性評価
液晶ディスプレイの劣化分析 2020/06/25 液晶ディスプレイの劣化分析(C0601) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
[IC]イオンクロマトグラフ法
[GC/MS]ガスクロマトグラフィー質量分析法
[LC/MS]液体クロマトグラフィー質量分析法
[XPS]X線光電子分光法
[SEM]走査電子顕微鏡法
[(S)TEM](走査)透過電子顕微鏡法
[AFM]原子間力顕微鏡法
[SMM]走査型マイクロ波顕微鏡法
計算科学・データ解析
ディスプレイ
微量濃度評価
化学結合状態評価
形状評価
構造評価
劣化調査・信頼性評価
XPSによる広域定量マッピング 2020/06/25 XPSによる広域定量マッピング(C0600) [XPS]X線光電子分光法
電子部品
製造装置・部品
日用品
組成分布評価
XPSによる結合状態マッピング 2020/06/04 XPSによる結合状態マッピング(C0592) [XPS]X線光電子分光法
電子部品
製造装置・部品
日用品
化学結合状態評価
単結晶Si表面のダメージ評価 2020/06/04 単結晶Si表面のダメージ評価(C0549) [XPS]X線光電子分光法
[(S)TEM](走査)透過電子顕微鏡法
LSI・メモリ
電子部品
組成評価・同定
化学結合状態評価
膜厚評価
構造評価
二次電池正極表面被膜の組成分析 2020/05/21 二次電池正極表面被膜の組成分析(C0588) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
[AES]オージェ電子分光法
[XPS]X線光電子分光法
二次電池
組成評価・同定
化学結合状態評価
組成分布評価
製品調査
XPSによる抗菌コートの評価 2020/05/13 XPSによる抗菌コートの評価(C0587) [XPS]X線光電子分光法
日用品
劣化調査・信頼性評価
製品調査
X線CT・GC/MSによるガラス繊維強化プラスチック(GFRP)の評価 2020/05/06 X線CT・GC/MSによるガラス繊維強化プラスチック(GFRP)の評価(C0582) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
[GC/MS]ガスクロマトグラフィー質量分析法
[XPS]X線光電子分光法
X線CT法
製造装置・部品
バイオテクノロジ
化粧品
日用品
化学結合状態評価
組成分布評価
形状評価
構造評価
劣化調査・信頼性評価
製品調査
XPSによるCu表面の酸化状態の定量 2020/05/06 XPSによるCu表面の酸化状態の定量(C0047) [XPS]X線光電子分光法
LSI・メモリ
電子部品
組成評価・同定
化学結合状態評価
TOF-SIMS・XPSによるプラズマ処理によるぬれ性変化の原因調査 2020/05/06 TOF-SIMS・XPSによるプラズマ処理によるぬれ性変化の原因調査(C0231) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
[XPS]X線光電子分光法
電子部品
医薬品
日用品
その他
組成評価・同定
化学結合状態評価
製品調査
XPS・AESによる深さ方向分析の比較 2020/05/06 XPS・AESによる深さ方向分析の比較(B0211) [AES]オージェ電子分光法
[XPS]X線光電子分光法
LSI・メモリ
電子部品
組成評価・同定
ARXPS(角度分解XPS)による極薄膜の組成分布評価 2020/04/30 ARXPS(角度分解XPS)による極薄膜の組成分布評価(C0550) [XPS]X線光電子分光法
LSI・メモリ
構造評価
TOF-SIMSによる有機EL(OLED)発光層の解析 2020/01/16 TOF-SIMSによる有機EL(OLED)発光層の解析(C0033) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
[XPS]X線光電子分光法
[(S)TEM](走査)透過電子顕微鏡法
ディスプレイ
組成評価・同定
膜厚評価
XPSによるポリイミドの評価 2019/11/28 XPSによるポリイミドの評価(C0579) [XPS]X線光電子分光法
電子部品
日用品
組成評価・同定
化学結合状態評価
劣化調査・信頼性評価
Sn酸化物に対する還元処理の検証~XPSと計算シミュレーションの比較から~ 2019/02/07 Sn酸化物に対する還元処理の検証~XPSと計算シミュレーションの比較から~(C0544) [XPS]X線光電子分光法
その他
酸化物半導体
日用品
化学結合状態評価
その他
XPSによるμmオーダーの深さ方向分析 2018/08/30 XPSによるμmオーダーの深さ方向分析(C0529) [XPS]X線光電子分光法
製造装置・部品
組成評価・同定
化学結合状態評価
組成分布評価
XPSによるプラスチック容器ガスバリア膜の評価 2018/03/08 XPSによるプラスチック容器ガスバリア膜の評価(C0513) [XPS]X線光電子分光法
日用品
食品
組成評価・同定
化学結合状態評価
製品調査
XPSによる歯科インプラントの評価 2018/03/08 XPSによる歯科インプラントの評価(C0512) [XPS]X線光電子分光法
医薬品
その他
組成評価・同定
製品調査
XPSにおける吸着酸素の影響 2018/02/01 XPSにおける吸着酸素の影響(B0240) [XPS]X線光電子分光法
LSI・メモリ
パワーデバイス
組成評価・同定
XPSによるSn酸化物の価数評価 2017/10/26 XPSによるSn酸化物の価数評価(C0492) [XPS]X線光電子分光法
酸化物半導体
日用品
化学結合状態評価
その他
燃料電池等の窒素ドープカーボン材料における窒素の置換位置評価 2017/09/07 燃料電池等の窒素ドープカーボン材料における窒素の置換位置評価(C0484) [XPS]X線光電子分光法
燃料電池
化学結合状態評価
構造評価
酸化・窒化薄膜のバンドギャップ評価 2017/03/16 酸化・窒化薄膜のバンドギャップ評価(C0462) [XPS]X線光電子分光法
[XAFS]X線吸収微細構造
パワーデバイス
太陽電池
照明
酸化物半導体
その他
XPSによるSiC表面の状態・膜厚評価 2015/08/27 XPSによるSiC表面の状態・膜厚評価(C0394) [XPS]X線光電子分光法
パワーデバイス
組成評価・同定
化学結合状態評価
膜厚評価
リチウムイオン二次電池におけるLiの結合状態別定量 2015/08/06 リチウムイオン二次電池におけるLiの結合状態別定量(C0389) [XPS]X線光電子分光法
二次電池
化学結合状態評価
燃料電池触媒PtRuの組成評価・形態観察 2015/07/16 燃料電池触媒PtRuの組成評価・形態観察(C0388) [XPS]X線光電子分光法
[SEM]走査電子顕微鏡法
[(S)TEM](走査)透過電子顕微鏡法
燃料電池
組成評価・同定
化学結合状態評価
形状評価
劣化調査・信頼性評価
ケミカルシフトによる金属酸化物の価数評価 2015/06/11 ケミカルシフトによる金属酸化物の価数評価(B0210) [XPS]X線光電子分光法
その他
化学結合状態評価
膜厚評価
エッチングによる有機付着物除去 2015/05/28 エッチングによる有機付着物除去(C0383) [XPS]X線光電子分光法
LSI・メモリ
パワーデバイス
光デバイス
製造装置・部品
酸化物半導体
組成評価・同定
化学結合状態評価

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