二次電池正極表面被膜の組成分析(C0588)

有機成分および活物質表面の分布評価、定性分析

概要

リチウムイオン二次電池の正極表面における成分の偏析や被膜の形成は、電気容量に影響する一因となります。正極として用いられるLi（NiCoMn)O2（NCM）について、AESによる微小領域マッピングおよび XPS、TOF-SIMSによる有機成分（バインダー）や活物質表面被膜の定性分析を行った事例を紹介いたします。これらの手法では、測定までの一連の処理をAr雰囲気下で行い、試料の変質を抑えた分析が可能です。

データ

■元素分布
AESによる微小領域のマッピング

微小領域における成分分布の可視化が可能です。

有機成分（バインダー）や活物質表面被膜の定性が可能です。

この分析事例のPDFファイルを開く二次電池正極表面被膜の組成分析

MST技術資料No.	C0588
掲載日	2020/05/21
測定法・加工法	［TOF-SIMS］飛行時間型二次イオン質量分析法［AES］オージェ電子分光法［XPS］X線光電子分光法
製品分野	二次電池
分析目的	組成評価・同定化学結合状態評価組成分布評価製品調査

関連する分析事例

掲載日	タイトル	測定法・加工法	製品分野	分析目的
2024/07/18	無アルカリガラス中の金属不純物の定性と定量評価(B0303)	［SIMS］二次イオン質量分析法［TOF-SIMS］飛行時間型二次イオン質量分析法	LSI・メモリ電子部品製造装置・部品酸化物半導体	微量濃度評価不純物評価・分布評価
2023/12/28	セラミックスのぬれ性原因評価(C0705)	［TOF-SIMS］飛行時間型二次イオン質量分析法	製造装置・部品	組成評価・同定
2023/12/28	セラミックス表面における洗浄成分の分布評価(C0704)	［TOF-SIMS］飛行時間型二次イオン質量分析法	製造装置・部品日用品その他	化学結合状態評価組成分布評価故障解析・不良解析
2023/12/21	セラミックスの変色原因評価(C0703)	［TOF-SIMS］飛行時間型二次イオン質量分析法	製造装置・部品	組成分布評価
2023/02/02	撥水箇所の成分分析(C0686)	［TOF-SIMS］飛行時間型二次イオン質量分析法	LSI・メモリパワーデバイス光デバイス電子部品照明ディスプレイ製造装置・部品酸化物半導体高分子材料日用品	組成分布評価不純物評価・分布評価
2023/01/26	光ファイバーのコアとクラッドの定性評価(C0685)	［TOF-SIMS］飛行時間型二次イオン質量分析法その他	電子部品高分子材料その他	組成分布評価不純物評価・分布評価その他
2022/11/10	剥離原因となる金属界面の有機物評価(B0285)	［TOF-SIMS］飛行時間型二次イオン質量分析法	LSI・メモリパワーデバイス光デバイス電子部品製造装置・部品酸化物半導体	故障解析・不良解析不純物評価・分布評価
2022/09/29	はんだボール表面酸化膜の三次元分布評価(B0284)	［AES］オージェ電子分光法	LSI・メモリ電子部品製造装置・部品	組成評価・同定組成分布評価
2022/07/28	脂質のイメージング(C0674)	［TOF-SIMS］飛行時間型二次イオン質量分析法 [MALDI-MS] マトリックス支援レーザー脱離イオン化質量分析法	バイオテクノロジ医薬品	組成分布評価
2021/11/25	HAXPESによるオージェピークの重複を回避した評価(B0273)	［XPS］X線光電子分光法 [HAXPES]硬X線光電子分光法	パワーデバイス電子部品太陽電池二次電池燃料電池製造装置・部品	組成評価・同定化学結合状態評価