歯科インプラント表面のXPS分析(C0512)

表面処理/コーティング層の組成・結合状態の評価が可能

概要

歯科インプラントとは、虫歯や歯周病などにより歯を失った場合に顎の骨に埋め込む人工的な器具です。
インプラントの材料はチタン・チタン合金が多く用いられ、インプラントと骨との結合を促進する目的で、表面に様々なコーティングが施されています。インプラントは生体に埋め込むため、生体と直接触れる表面部の安全性評価が重要です。XPSは最表面(~5nm程度) の組成・結合状態の評価が可能です。
本資料では、XPSで評価を行った事例をご紹介します。

データ

サンプル概要

ネジ溝の○箇所の最表面分析を行いました。
※ネジ山の評価も可能です。

分析結果

・酸化状態のTiを主に微量のSi,Nも存在 ・Cは表面有機汚染由来

関連分析事例


D-SIMS(不純物元素の定量評価):C0519


TOS-SIMS(Tiの酸化・水素化の深さ方向分析):C0509

MST技術資料No.C0512
掲載日2018/03/08
測定法・加工法[XPS]X線光電子分光法
製品分野医薬品
その他
分析目的組成評価・同定
製品調査

関連する分析事例

イメージ 掲載日 タイトル 測定法・加工法 製品分野 分析目的
HAXPESによるオージェピークの重複を回避した評価 2021/11/25 HAXPESによるオージェピークの重複を回避した評価(B0273) [XPS]X線光電子分光法
[HAXPES]硬X線光電子分光法
パワーデバイス
電子部品
太陽電池
二次電池
燃料電池
製造装置・部品
組成評価・同定
化学結合状態評価
二次電池正極の結合状態評価 2021/09/02 二次電池正極の結合状態評価(C0659) [XPS]X線光電子分光法
[HAXPES]硬X線光電子分光法
雰囲気制御下での処理
二次電池
化学結合状態評価
製品調査
二次電池セパレータの構造評価 2021/08/12 二次電池セパレータの構造評価(C0604) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
[XPS]X線光電子分光法
[SEM]走査電子顕微鏡法
[SEM-EDX]エネルギー分散型X線分光法(SEM)
[FT-IR]フーリエ変換赤外分光法
[XRD]X線回折法
[TG-DTA-MS]示差熱天秤-質量分析法
[IP法]Arイオン研磨加工
雰囲気制御下での処理
二次電池
組成評価・同定
化学結合状態評価
組成分布評価
形状評価
構造評価
製品調査
ステンレス不動態皮膜の深さ方向状態評価 2021/04/29 ステンレス不動態皮膜の深さ方向状態評価(C0003) [XPS]X線光電子分光法
製造装置・部品
組成評価・同定
化学結合状態評価
組成分布評価
二次電池負極SEI被膜の元素分布評価・化学状態評価 2021/02/11 二次電池負極SEI被膜の元素分布評価・化学状態評価(C0645) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
[XPS]X線光電子分光法
[SEM]走査電子顕微鏡法
[(S)TEM](走査)透過電子顕微鏡法
[TEM-EELS]電子エネルギー損失分光法
雰囲気制御下での処理
二次電池
化学結合状態評価
組成分布評価
形状評価
膜厚評価
構造評価
製品調査
SEMI規格に準拠した ステンレス表面不動態膜の評価 2020/07/23 SEMI規格に準拠した ステンレス表面不動態膜の評価(C0612) [AES]オージェ電子分光法
[XPS]X線光電子分光法
その他
製造装置・部品
組成評価・同定
化学結合状態評価
組成分布評価
膜厚評価
XPSによるSn表面の状態評価 2020/07/02 XPSによるSn表面の状態評価(C0603) [XPS]X線光電子分光法
電子部品
酸化物半導体
化学結合状態評価
その他
切断加工を併用した金属配管内壁のXPS分析 2020/07/02 切断加工を併用した金属配管内壁のXPS分析(C0602) [XPS]X線光電子分光法
製造装置・部品
組成評価・同定
化学結合状態評価
故障解析・不良解析
劣化調査・信頼性評価
液晶ディスプレイの劣化分析 2020/06/25 液晶ディスプレイの劣化分析(C0601) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
[IC]イオンクロマトグラフ法
[GC/MS]ガスクロマトグラフィー質量分析法
[LC/MS]液体クロマトグラフィー質量分析法
[XPS]X線光電子分光法
[SEM]走査電子顕微鏡法
[(S)TEM](走査)透過電子顕微鏡法
[AFM]原子間力顕微鏡法
[SMM]走査型マイクロ波顕微鏡法
計算科学・AI・データ解析
ディスプレイ
微量濃度評価
化学結合状態評価
形状評価
構造評価
劣化調査・信頼性評価
XPSによる広域定量マッピング 2020/06/25 XPSによる広域定量マッピング(C0600) [XPS]X線光電子分光法
電子部品
製造装置・部品
日用品
組成分布評価

分析のご相談・お申し込み

知識豊富な営業担当が、最適な分析プランをご提案。
分析費用のお見積りもお気軽にお問い合わせください。
相談・お申し込みは、専用のフォームかお電話でどうぞ。

webからのお問い合わせはこちら

分析お問い合わせフォーム

お電話からのお問い合わせはこちら

ページトップへ