TOF-SIMS・XPSによるプラズマ処理によるぬれ性変化の原因調査(C0231)

TOF-SIMSによる高分子・樹脂・フィルムの表面改質層の最表面の評価が可能

MST技術資料No.C0231
掲載日2020/05/06
測定法・加工法[TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
[XPS]X線光電子分光法
製品分野電子部品
医薬品
日用品
その他
分析目的組成評価・同定
化学結合状態評価
製品調査

概要

細胞培養シャーレの表面では、細胞の密着性(接着性)を高めるために、疎水性のプラスチック表面を親水性に変える処理が行われています。今回、シャーレの表面についてXPS,TOF-SIMSで評価した結果、親水処理を行うことで、OH,CHOが増加していることがわかりました。
XPSで表面の定量的な評価を行い、TOF-SIMSで定性的な評価を行うことで、表面がどのように変化したかを捉えることが可能です。

データ

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