分析事例

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分析事例一覧

掲載日	タイトル	測定法・加工法	製品分野	分析目的
2023/11/30	ノーマリーオフ型GaN HEMT二次元電子ガス層評価(C0702)	［SIMS］二次イオン質量分析法［(S)TEM］（走査）透過電子顕微鏡法［SCM］走査型静電容量顕微鏡法・［SNDM］走査型非線形誘電率顕微鏡法［SMM］走査型マイクロ波顕微鏡法	パワーデバイス	微量濃度評価形状評価構造評価製品調査
2021/02/11	二次電池負極SEI被膜の元素分布評価・化学状態評価(C0645)	［TOF-SIMS］飛行時間型二次イオン質量分析法［XPS］X線光電子分光法［SEM］走査電子顕微鏡法［(S)TEM］（走査）透過電子顕微鏡法［TEM-EELS］電子エネルギー損失分光法雰囲気制御下での処理	二次電池	化学結合状態評価組成分布評価形状評価膜厚評価構造評価製品調査
2021/01/14	毛髪断面の微細構造（S)TEM分析(C0643)	［(S)TEM］（走査）透過電子顕微鏡法［TEM-EDX］エネルギー分散型X線分光法（TEM）ウルトラミクロトーム加工その他	バイオテクノロジ医薬品化粧品日用品	組成評価・同定組成分布評価形状評価膜厚評価
2021/01/14	ネガティブ染色による(S)TEM観察事例(C0642)	［(S)TEM］（走査）透過電子顕微鏡法その他	医薬品化粧品日用品食品	形状評価製品調査
2020/11/26	電子染色を用いた高分子材料の(S)TEM観察(C0640)	［(S)TEM］（走査）透過電子顕微鏡法その他	日用品その他	形状評価その他
2020/07/30	二次電池正極活物質の局所領域評価(C0614)	［(S)TEM］（走査）透過電子顕微鏡法［TEM-EDX］エネルギー分散型X線分光法（TEM）［TEM-EELS］電子エネルギー損失分光法	二次電池	化学結合状態評価組成分布評価構造評価製品調査
2020/07/30	X線小角散乱法によるAuナノ粒子の粒径解析(C0613)	［(S)TEM］（走査）透過電子顕微鏡法［SAXS］X線小角散乱法	二次電池燃料電池化粧品その他	形状評価
2020/07/16	Xe-プラズマFIBによる構造解析(B0255)	［SEM］走査電子顕微鏡法［Slice&View］三次元SEM観察法［EBSD］電子後方散乱回折法［(S)TEM］（走査）透過電子顕微鏡法 X線CT法［FIB］集束イオンビーム加工その他	LSI・メモリ	形状評価構造評価故障解析・不良解析製品調査
2020/07/09	二次電池正極活物質の総合評価(C0607)	［TOF-SIMS］飛行時間型二次イオン質量分析法［ICP-MS］誘導結合プラズマ質量分析法［SEM］走査電子顕微鏡法［SEM-EDX］エネルギー分散型X線分光法（SEM）［EBSD］電子後方散乱回折法［(S)TEM］（走査）透過電子顕微鏡法［XRD］X線回折法［SSRM］走査型広がり抵抗顕微鏡法	二次電池	組成評価・同定化学結合状態評価組成分布評価形状評価構造評価製品調査
2020/07/09	二次電池正極活物質の構造評価(C0605)	［SEM］走査電子顕微鏡法［EBSD］電子後方散乱回折法［(S)TEM］（走査）透過電子顕微鏡法	二次電池	形状評価構造評価製品調査
2020/06/25	液晶ディスプレイの劣化分析(C0601)	［TOF-SIMS］飛行時間型二次イオン質量分析法［IC］イオンクロマトグラフ法［GC/MS］ガスクロマトグラフィー質量分析法［LC/MS］液体クロマトグラフィー質量分析法［XPS］X線光電子分光法［SEM］走査電子顕微鏡法［(S)TEM］（走査）透過電子顕微鏡法［AFM］原子間力顕微鏡法［SMM］走査型マイクロ波顕微鏡法計算科学・AI・データ解析	ディスプレイ	微量濃度評価化学結合状態評価形状評価構造評価劣化調査・信頼性評価
2020/06/04	単結晶Si表面のダメージ評価(C0549)	［XPS］X線光電子分光法［(S)TEM］（走査）透過電子顕微鏡法	LSI・メモリ電子部品	組成評価・同定化学結合状態評価膜厚評価構造評価
2020/05/06	STEM・EDXデータと像シミュレーションの組み合わせによる結晶構造評価(C0558)	［(S)TEM］（走査）透過電子顕微鏡法［TEM-EDX］エネルギー分散型X線分光法（TEM）計算科学・AI・データ解析	LSI・メモリパワーデバイス光デバイス太陽電池二次電池酸化物半導体	構造評価
2020/05/06	SEM・TEM・EDXによる触媒材料の形態観察・成分分析(C0385)	［SEM］走査電子顕微鏡法［(S)TEM］（走査）透過電子顕微鏡法［TEM-EDX］エネルギー分散型X線分光法（TEM）	燃料電池	組成評価・同定組成分布評価形状評価劣化調査・信頼性評価
2020/05/06	TEM・EDXによる触媒材料の粒子径・組成評価(C0386)	［(S)TEM］（走査）透過電子顕微鏡法［TEM-EDX］エネルギー分散型X線分光法（TEM）	燃料電池	組成評価・同定形状評価劣化調査・信頼性評価
2020/05/06	TEMによる多元系金属微粒子の結晶構造観察(C0116)	［(S)TEM］（走査）透過電子顕微鏡法	酸化物半導体	構造評価
2020/05/06	TEM・EDX・EELSによるアイシャドウ成分の元素分析(C0302)	［(S)TEM］（走査）透過電子顕微鏡法［TEM-EDX］エネルギー分散型X線分光法（TEM）［TEM-EELS］電子エネルギー損失分光法	化粧品	組成評価・同定製品調査
2020/05/06	SIMS・SCM・TEMによるSiCパワーMOSFETの活性層評価(C0291)	［SIMS］二次イオン質量分析法［(S)TEM］（走査）透過電子顕微鏡法［SCM］走査型静電容量顕微鏡法・［SNDM］走査型非線形誘電率顕微鏡法	パワーデバイス	微量濃度評価形状評価製品調査
2020/04/30	DRAMチップのTEM・SEMによる構造解析(C0542)	［SEM］走査電子顕微鏡法［(S)TEM］（走査）透過電子顕微鏡法	LSI・メモリ	形状評価構造評価製品調査
2020/04/30	PL・TEMによるSiCパワーデバイスの結晶欠陥評価(C0494)	［(S)TEM］（走査）透過電子顕微鏡法［PL］フォトルミネッセンス法［FIB］集束イオンビーム加工その他	パワーデバイス	構造評価故障解析・不良解析製品調査
2020/04/30	TEM観察によるLIB(リチウムイオン)正極材料の解析(C0475)	［(S)TEM］（走査）透過電子顕微鏡法［TEM-EDX］エネルギー分散型X線分光法（TEM）［TEM-EELS］電子エネルギー損失分光法［ED］電子回折法	二次電池	組成評価・同定組成分布評価構造評価
2020/04/30	TEM・SEMによる有機EL(OLED)・ゲート酸化膜の断面観察(C0090)	［SEM］走査電子顕微鏡法［(S)TEM］（走査）透過電子顕微鏡法	LSI・メモリ太陽電池照明ディスプレイ	形状評価膜厚評価
2020/01/16	有機EL(OLED)発光層の解析(C0033)	［TOF-SIMS］飛行時間型二次イオン質量分析法［XPS］X線光電子分光法［(S)TEM］（走査）透過電子顕微鏡法	ディスプレイ	組成評価・同定膜厚評価
2019/03/14	STEM,EBSDと像シミュレーションを併用した多結晶体の結晶構造解析(C0557)	［EBSD］電子後方散乱回折法［(S)TEM］（走査）透過電子顕微鏡法計算科学・AI・データ解析	LSI・メモリパワーデバイス光デバイス太陽電池二次電池酸化物半導体	構造評価
2018/11/29	CMOSセンサの総合評価(C0537)	［SEM］走査電子顕微鏡法［(S)TEM］（走査）透過電子顕微鏡法［TEM-EDX］エネルギー分散型X線分光法（TEM）	光デバイス電子部品	組成評価・同定形状評価構造評価
2016/02/25	高電子移動度トランジスタの評価(C0410)	［(S)TEM］（走査）透過電子顕微鏡法［TEM-EELS］電子エネルギー損失分光法	パワーデバイス	膜厚評価構造評価
2016/02/18	ABF-STEM観察によるGaNの極性評価(C0409)	［(S)TEM］（走査）透過電子顕微鏡法	パワーデバイス光デバイス	形状評価膜厚評価構造評価
2015/09/17	電子回折の種類と特徴(B0214)	［(S)TEM］（走査）透過電子顕微鏡法［ED］電子回折法	その他	形状評価構造評価故障解析・不良解析劣化調査・信頼性評価製品調査
2015/07/30	チタン酸ストロンチウムSrTiO3の原子カラム観察(C0390)	［(S)TEM］（走査）透過電子顕微鏡法［TEM-EDX］エネルギー分散型X線分光法（TEM）	LSI・メモリ	形状評価構造評価
2015/07/16	燃料電池触媒PtRuの組成評価・形態観察(C0388)	［XPS］X線光電子分光法［SEM］走査電子顕微鏡法［(S)TEM］（走査）透過電子顕微鏡法	燃料電池	組成評価・同定化学結合状態評価形状評価劣化調査・信頼性評価