分析事例

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分析事例一覧

掲載日	タイトル	測定法・加工法	製品分野	分析目的
2024/04/04	トレンチ型Si-MOSFETの IDSSリーク箇所の複合解析(C0707)	［SEM］走査電子顕微鏡法［SCM］走査型静電容量顕微鏡法・［SNDM］走査型非線形誘電率顕微鏡法［EMS］エミッション顕微鏡法	パワーデバイス	故障解析・不良解析
2023/03/09	バッテリー正極材の活物質抽出およびデータ解析(C0690)	［SEM］走査電子顕微鏡法	太陽電池二次電池燃料電池	形状評価構造評価故障解析・不良解析
2023/03/09	細菌の画像からの細胞周期評価(C0689)	［SEM］走査電子顕微鏡法	バイオテクノロジ医薬品化粧品日用品食品	形状評価製品調査
2021/08/12	二次電池セパレータの構造評価(C0604)	［TOF-SIMS］飛行時間型二次イオン質量分析法［XPS］X線光電子分光法［SEM］走査電子顕微鏡法［SEM-EDX］エネルギー分散型X線分光法（SEM）［FT-IR］フーリエ変換赤外分光法［XRD］X線回折法［TG-DTA-MS］示差熱天秤-質量分析法［IP法］Arイオン研磨加工雰囲気制御下での処理	二次電池	組成評価・同定化学結合状態評価組成分布評価形状評価構造評価製品調査
2021/02/11	二次電池負極SEI被膜の元素分布評価・化学状態評価(C0645)	［TOF-SIMS］飛行時間型二次イオン質量分析法［XPS］X線光電子分光法［SEM］走査電子顕微鏡法［(S)TEM］（走査）透過電子顕微鏡法［TEM-EELS］電子エネルギー損失分光法雰囲気制御下での処理	二次電池	化学結合状態評価組成分布評価形状評価膜厚評価構造評価製品調査
2020/07/16	Xe-PFIBを用いた広域断面のSEM観察(C0610)	［SEM］走査電子顕微鏡法 X線CT法［FIB］集束イオンビーム加工	LSI・メモリ	形状評価構造評価製品調査
2020/07/16	Xe-プラズマFIBによる構造解析(B0255)	［SEM］走査電子顕微鏡法［Slice&View］三次元SEM観察法［EBSD］電子後方散乱回折法［(S)TEM］（走査）透過電子顕微鏡法 X線CT法［FIB］集束イオンビーム加工その他	LSI・メモリ	形状評価構造評価故障解析・不良解析製品調査
2020/07/09	二次電池正極活物質の総合評価(C0607)	［TOF-SIMS］飛行時間型二次イオン質量分析法［ICP-MS］誘導結合プラズマ質量分析法［SEM］走査電子顕微鏡法［SEM-EDX］エネルギー分散型X線分光法（SEM）［EBSD］電子後方散乱回折法［(S)TEM］（走査）透過電子顕微鏡法［XRD］X線回折法［SSRM］走査型広がり抵抗顕微鏡法	二次電池	組成評価・同定化学結合状態評価組成分布評価形状評価構造評価製品調査
2020/07/09	二次電池正極の抵抗値およびLiの分布評価(C0606)	［TOF-SIMS］飛行時間型二次イオン質量分析法［SEM］走査電子顕微鏡法［SSRM］走査型広がり抵抗顕微鏡法［IP法］Arイオン研磨加工	二次電池	組成分布評価形状評価製品調査
2020/07/09	二次電池正極活物質の構造評価(C0605)	［SEM］走査電子顕微鏡法［EBSD］電子後方散乱回折法［(S)TEM］（走査）透過電子顕微鏡法	二次電池	形状評価構造評価製品調査
2020/06/25	液晶ディスプレイの劣化分析(C0601)	［TOF-SIMS］飛行時間型二次イオン質量分析法［IC］イオンクロマトグラフ法［GC/MS］ガスクロマトグラフィー質量分析法［LC/MS］液体クロマトグラフィー質量分析法［XPS］X線光電子分光法［SEM］走査電子顕微鏡法［(S)TEM］（走査）透過電子顕微鏡法［AFM］原子間力顕微鏡法［SMM］走査型マイクロ波顕微鏡法計算科学・AI・データ解析	ディスプレイ	微量濃度評価化学結合状態評価形状評価構造評価劣化調査・信頼性評価
2020/06/18	消毒前後における不織布マスクの表面形状観察(C0598)	［SEM］走査電子顕微鏡法	日用品ウイルス対策関連品	形状評価構造評価劣化調査・信頼性評価製品調査
2020/06/11	二次電池正極活物質の劣化評価(C0593)	［SEM］走査電子顕微鏡法［Raman］ラマン分光法［XRD］X線回折法	二次電池	組成評価・同定組成分布評価形状評価構造評価製品調査
2020/05/28	二次電池正極導電助剤の分散状態評価(C0590)	［SEM］走査電子顕微鏡法［Raman］ラマン分光法	二次電池	組成分布評価構造評価製品調査
2020/05/06	X線CT・クライオSEMによる化粧品の3D観察(C0574)	［SEM］走査電子顕微鏡法［Slice&View］三次元SEM観察法 X線CT法クライオ加工	化粧品日用品	構造評価製品調査
2020/05/06	AES・SEM-EDXによるCu表面変色部の評価(C0451)	［AES］オージェ電子分光法［SEM］走査電子顕微鏡法［SEM-EDX］エネルギー分散型X線分光法（SEM）	LSI・メモリ電子部品製造装置・部品	組成評価・同定組成分布評価
2020/05/06	SEMによる極低加速電圧条件での微細構造観察(C0336)	［SEM］走査電子顕微鏡法	二次電池	形状評価
2020/05/06	SEM・TEM・EDXによる触媒材料の形態観察・成分分析(C0385)	［SEM］走査電子顕微鏡法［(S)TEM］（走査）透過電子顕微鏡法［TEM-EDX］エネルギー分散型X線分光法（TEM）	燃料電池	組成評価・同定組成分布評価形状評価劣化調査・信頼性評価
2020/05/06	クライオFIB-SEMによる加工食品中エマルションの観察(C0327)	［SEM］走査電子顕微鏡法［FIB］集束イオンビーム加工クライオ加工	食品	形状評価
2020/04/30	DRAMチップのTEM・SEMによる構造解析(C0542)	［SEM］走査電子顕微鏡法［(S)TEM］（走査）透過電子顕微鏡法	LSI・メモリ	形状評価構造評価製品調査
2020/04/30	SiC Trench MOSFETのトレンチ側壁の粗さ評価(C0555)	［SEM］走査電子顕微鏡法［AFM］原子間力顕微鏡法	パワーデバイス	形状評価構造評価劣化調査・信頼性評価製品調査
2020/04/30	TEM・SEMによる有機EL(OLED)・ゲート酸化膜の断面観察(C0090)	［SEM］走査電子顕微鏡法［(S)TEM］（走査）透過電子顕微鏡法	LSI・メモリ太陽電池照明ディスプレイ	形状評価膜厚評価
2019/08/29	電子デバイス内特異箇所の複合解析(C0572)	［SEM］走査電子顕微鏡法［SEM-EDX］エネルギー分散型X線分光法（SEM） X線CT法［FIB］集束イオンビーム加工	電子部品	構造評価故障解析・不良解析製品調査
2019/04/11	SEMとSIMによるCu表面の二次電子像の比較(C0543)	［SEM］走査電子顕微鏡法［SIM］走査イオン顕微鏡法	LSI・メモリ	構造評価
2018/11/29	CMOSセンサの総合評価(C0537)	［SEM］走査電子顕微鏡法［(S)TEM］（走査）透過電子顕微鏡法［TEM-EDX］エネルギー分散型X線分光法（TEM）	光デバイス電子部品	組成評価・同定形状評価構造評価
2017/10/26	AFMによる注射針の表面微細構造観察(C0493)	［SEM］走査電子顕微鏡法［AFM］原子間力顕微鏡法	医薬品	形状評価製品調査安全性試験
2015/10/15	塗料と基材界面の状態観察(C0391)	［SEM］走査電子顕微鏡法［IP法］Arイオン研磨加工クライオ加工	日用品	形状評価膜厚評価製品調査
2015/10/15	導電性塗料中の成分の分析(C0400)	［SEM］走査電子顕微鏡法［FIB］集束イオンビーム加工クライオ加工	日用品	組成評価・同定組成分布評価形状評価製品調査
2015/07/16	燃料電池触媒PtRuの組成評価・形態観察(C0388)	［XPS］X線光電子分光法［SEM］走査電子顕微鏡法［(S)TEM］（走査）透過電子顕微鏡法	燃料電池	組成評価・同定化学結合状態評価形状評価劣化調査・信頼性評価
2015/06/25	XRD・EBSDによるGaN結晶成長の評価(C0384)	［SEM］走査電子顕微鏡法［EBSD］電子後方散乱回折法［XRD］X線回折法	パワーデバイス	形状評価構造評価