分析事例

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分析事例一覧

イメージ 掲載日 タイトル 測定法・加工法 製品分野 分析目的
Xe-PFIBを用いた広域断面のSEM観察 2020/07/16 Xe-PFIBを用いた広域断面のSEM観察(C0610) [SEM]走査電子顕微鏡法
X線CT法
[FIB]集束イオンビーム加工
LSI・メモリ
形状評価
構造評価
製品調査
Xe-プラズマFIBによる構造解析 2020/07/16 Xe-プラズマFIBによる構造解析(B0255) [SEM]走査電子顕微鏡法
[Slice&View]三次元SEM観察法
[EBSD]電子後方散乱回折法
[(S)TEM](走査)透過電子顕微鏡法
X線CT法
[FIB]集束イオンビーム加工
その他
LSI・メモリ
形状評価
構造評価
故障解析・不良解析
製品調査
二次電池正極活物質の総合評価 2020/07/09 二次電池正極活物質の総合評価(C0607) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
[ICP-MS]誘導結合プラズマ質量分析法
[SEM]走査電子顕微鏡法
[SEM-EDX]エネルギー分散型X線分光法(SEM)
[EBSD]電子後方散乱回折法
[(S)TEM](走査)透過電子顕微鏡法
[XRD]X線回折法
[SSRM]走査型広がり抵抗顕微鏡法
二次電池
組成評価・同定
化学結合状態評価
組成分布評価
形状評価
構造評価
製品調査
二次電池正極の抵抗値およびLiの分布評価 2020/07/09 二次電池正極の抵抗値およびLiの分布評価(C0606) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
[SEM]走査電子顕微鏡法
[SSRM]走査型広がり抵抗顕微鏡法
[IP法]Arイオン研磨加工
二次電池
組成分布評価
形状評価
製品調査
二次電池正極活物質の構造評価 2020/07/09 二次電池正極活物質の構造評価(C0605) [SEM]走査電子顕微鏡法
[EBSD]電子後方散乱回折法
[(S)TEM](走査)透過電子顕微鏡法
二次電池
形状評価
構造評価
製品調査
二次電池セパレータの構造評価 2020/07/09 二次電池セパレータの構造評価(C0604) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
[XPS]X線光電子分光法
[SEM]走査電子顕微鏡法
[FT-IR]フーリエ変換赤外分光法
二次電池
組成評価・同定
化学結合状態評価
組成分布評価
形状評価
構造評価
製品調査
液晶ディスプレイの劣化分析 2020/06/25 液晶ディスプレイの劣化分析(C0601) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
[IC]イオンクロマトグラフ法
[GC/MS]ガスクロマトグラフィー質量分析法
[LC/MS]液体クロマトグラフィー質量分析法
[XPS]X線光電子分光法
[SEM]走査電子顕微鏡法
[(S)TEM](走査)透過電子顕微鏡法
[AFM]原子間力顕微鏡法
[SMM]走査型マイクロ波顕微鏡法
計算科学・データ解析
ディスプレイ
微量濃度評価
化学結合状態評価
形状評価
構造評価
劣化調査・信頼性評価
消毒前後における不織布マスクの表面形状観察 2020/06/18 消毒前後における不織布マスクの表面形状観察(C0598) [SEM]走査電子顕微鏡法
日用品
ウイルス対策関連品
形状評価
構造評価
劣化調査・信頼性評価
製品調査
二次電池正極活物質の劣化評価 2020/06/11 二次電池正極活物質の劣化評価(C0593) [SEM]走査電子顕微鏡法
[Raman]ラマン分光法
[XRD]X線回折法
二次電池
組成評価・同定
組成分布評価
形状評価
構造評価
製品調査
二次電池正極導電助剤の分散状態評価 2020/05/28 二次電池正極導電助剤の分散状態評価(C0590) [SEM]走査電子顕微鏡法
[Raman]ラマン分光法
二次電池
組成分布評価
構造評価
製品調査
X線CT・クライオSEMによる化粧品の3D観察 2020/05/06 X線CT・クライオSEMによる化粧品の3D観察(C0574) [SEM]走査電子顕微鏡法
[Slice&View]三次元SEM観察法
X線CT法
クライオ加工
化粧品
日用品
構造評価
製品調査
AES・SEM-EDXによるCu表面変色部の評価 2020/05/06 AES・SEM-EDXによるCu表面変色部の評価(C0451) [AES]オージェ電子分光法
[SEM]走査電子顕微鏡法
[SEM-EDX]エネルギー分散型X線分光法(SEM)
LSI・メモリ
電子部品
製造装置・部品
組成評価・同定
組成分布評価
SEMによる極低加速電圧条件での微細構造観察 2020/05/06 SEMによる極低加速電圧条件での微細構造観察(C0336) [SEM]走査電子顕微鏡法
二次電池
形状評価
SEM・TEM・EDXによる触媒材料の形態観察・成分分析 2020/05/06 SEM・TEM・EDXによる触媒材料の形態観察・成分分析(C0385) [SEM]走査電子顕微鏡法
[(S)TEM](走査)透過電子顕微鏡法
[TEM-EDX]エネルギー分散型X線分光法(TEM)
燃料電池
組成評価・同定
組成分布評価
形状評価
劣化調査・信頼性評価
クライオFIB-SEMによる加工食品中エマルションの観察 2020/05/06 クライオFIB-SEMによる加工食品中エマルションの観察(C0327) [SEM]走査電子顕微鏡法
[FIB]集束イオンビーム加工
クライオ加工
食品
形状評価
DRAMチップのTEM・SEMによる構造解析 2020/04/30 DRAMチップのTEM・SEMによる構造解析(C0542) [SEM]走査電子顕微鏡法
[(S)TEM](走査)透過電子顕微鏡法
LSI・メモリ
形状評価
構造評価
製品調査
SiC Trench MOSFETのトレンチ側壁の粗さ評価 2020/04/30 SiC Trench MOSFETのトレンチ側壁の粗さ評価(C0555) [SEM]走査電子顕微鏡法
[AFM]原子間力顕微鏡法
パワーデバイス
形状評価
構造評価
劣化調査・信頼性評価
製品調査
TEM・SEMによる有機EL(OLED)・ゲート酸化膜の断面観察 2020/04/30 TEM・SEMによる有機EL(OLED)・ゲート酸化膜の断面観察(C0090) [SEM]走査電子顕微鏡法
[(S)TEM](走査)透過電子顕微鏡法
LSI・メモリ
太陽電池
照明
ディスプレイ
形状評価
膜厚評価
電子デバイス内特異箇所の複合解析 2019/08/29 電子デバイス内特異箇所の複合解析(C0572) [SEM]走査電子顕微鏡法
[SEM-EDX]エネルギー分散型X線分光法(SEM)
X線CT法
[FIB]集束イオンビーム加工
電子部品
構造評価
故障解析・不良解析
製品調査
SEMとSIMによるCu表面の二次電子像の比較 2019/04/11 SEMとSIMによるCu表面の二次電子像の比較(C0543) [SEM]走査電子顕微鏡法
[SIM]走査イオン顕微鏡法
LSI・メモリ
構造評価
CMOSセンサの総合評価 2018/11/29 CMOSセンサの総合評価(C0537) [SEM]走査電子顕微鏡法
[(S)TEM](走査)透過電子顕微鏡法
[TEM-EDX]エネルギー分散型X線分光法(TEM)
光デバイス
電子部品
組成評価・同定
形状評価
構造評価
AFMによる注射針の表面微細構造観察 2017/10/26 AFMによる注射針の表面微細構造観察(C0493) [SEM]走査電子顕微鏡法
[AFM]原子間力顕微鏡法
医薬品
形状評価
製品調査
安全性試験
塗料と基材界面の状態観察 2015/10/15 塗料と基材界面の状態観察(C0391) [SEM]走査電子顕微鏡法
[IP法]Arイオン研磨加工
クライオ加工
日用品
形状評価
膜厚評価
製品調査
導電性塗料中の成分の分析 2015/10/15 導電性塗料中の成分の分析(C0400) [SEM]走査電子顕微鏡法
[FIB]集束イオンビーム加工
クライオ加工
日用品
組成評価・同定
組成分布評価
形状評価
製品調査
燃料電池触媒PtRuの組成評価・形態観察 2015/07/16 燃料電池触媒PtRuの組成評価・形態観察(C0388) [XPS]X線光電子分光法
[SEM]走査電子顕微鏡法
[(S)TEM](走査)透過電子顕微鏡法
燃料電池
組成評価・同定
化学結合状態評価
形状評価
劣化調査・信頼性評価
XRD・EBSDによるGaN結晶成長の評価 2015/06/25 XRD・EBSDによるGaN結晶成長の評価(C0384) [SEM]走査電子顕微鏡法
[EBSD]電子後方散乱回折法
[XRD]X線回折法
パワーデバイス
形状評価
構造評価
クライオSEMについて 2014/01/16 クライオSEMについて(B0192) [SEM]走査電子顕微鏡法
クライオ加工
食品
形状評価
三次元SEMによる活物質体積の数値評価 2013/07/25 三次元SEMによる活物質体積の数値評価(C0316) [SEM]走査電子顕微鏡法
[Slice&View]三次元SEM観察法
[FIB]集束イオンビーム加工
クライオ加工
二次電池
形状評価
テクスチャ付きGaN系LEDの元素分布評価 2012/12/06 テクスチャ付きGaN系LEDの元素分布評価(C0248) [SIMS]二次イオン質量分析法
[SEM]走査電子顕微鏡法
[SSDP用加工]基板側からの測定用加工
その他
パワーデバイス
照明
ディスプレイ
微量濃度評価
製品調査
金属ワイヤー中の不純物評価 2012/11/22 金属ワイヤー中の不純物評価(C0265) [SIMS]二次イオン質量分析法
[SEM]走査電子顕微鏡法
[IP法]Arイオン研磨加工
その他
電子部品
その他
微量濃度評価
製品調査

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