導電性塗料中の成分の分析(C0400)

試料冷却により塗料中の添加剤の形状と成分、および分散状態を評価

概要

導電性塗料は、絶縁性材料に導電性を持たせるために用いられています。もともと絶縁性である塗料自体に導電性を持たせるために、塗料中には添加剤が加えられています。
本資料では、導電性の異なる2種類の導電性塗料について、塗料中の添加剤の形状と成分、および添加剤の分散状態を評価しました。

データ

試料調整・分析手順

導電性の異なる2種類の塗料A,B(導電性:A>B)について、急速冷却後、クライオFIB-SEMにより塗料の内部構造を観察しました。

断面SEM観察結果

図1,2に、クライオFIB-SEMによる塗料A,Bの断面観察結果を示します。塗料A(図1)と塗料B(図2)とでは、添加剤の形状と分散状態が異なっていることが観察されました。
図3に、塗料Aの添加剤に着目してEDX元素マッピングを行った結果を示します。塗料Aの添加剤の成分はCuであることが分かり、また、一部のCuの周囲がAgでコーティングされていることが分かりました。

MST技術資料No.C0400
掲載日2015/10/15
測定法・加工法[SEM]走査電子顕微鏡法
[FIB]集束イオンビーム加工
クライオ加工
製品分野日用品
分析目的組成評価・同定
組成分布評価
形状評価
製品調査

関連する分析事例

イメージ 掲載日 タイトル 測定法・加工法 製品分野 分析目的
トレンチ型Si-MOSFETの IDSSリーク箇所の複合解析 2024/04/04 トレンチ型Si-MOSFETの IDSSリーク箇所の複合解析(C0707) [SEM]走査電子顕微鏡法
[SCM]走査型静電容量顕微鏡法・[SNDM]走査型非線形誘電率顕微鏡法
[EMS]エミッション顕微鏡法
パワーデバイス
故障解析・不良解析
バッテリー正極材の活物質抽出およびデータ解析 2023/03/09 バッテリー正極材の活物質抽出およびデータ解析(C0690) [SEM]走査電子顕微鏡法
太陽電池
二次電池
燃料電池
形状評価
構造評価
故障解析・不良解析
細菌の画像からの細胞周期評価 2023/03/09 細菌の画像からの細胞周期評価(C0689) [SEM]走査電子顕微鏡法
バイオテクノロジ
医薬品
化粧品
日用品
食品
形状評価
製品調査
二次電池セパレータの構造評価 2021/08/12 二次電池セパレータの構造評価(C0604) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
[XPS]X線光電子分光法
[SEM]走査電子顕微鏡法
[SEM-EDX]エネルギー分散型X線分光法(SEM)
[FT-IR]フーリエ変換赤外分光法
[XRD]X線回折法
[TG-DTA-MS]示差熱天秤-質量分析法
[IP法]Arイオン研磨加工
雰囲気制御下での処理
二次電池
組成評価・同定
化学結合状態評価
組成分布評価
形状評価
構造評価
製品調査
三次元培養ヒト皮膚を用いた皮膚透過性評価 2021/03/25 三次元培養ヒト皮膚を用いた皮膚透過性評価(C0647) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
[HPLC]高速液体クロマトグラフ法
[LC/MS]液体クロマトグラフィー質量分析法
クライオ加工
その他
バイオテクノロジ
医薬品
化粧品
食品
微量濃度評価
組成分布評価
構造評価
製品調査
安全性試験
二次電池負極SEI被膜の元素分布評価・化学状態評価 2021/02/11 二次電池負極SEI被膜の元素分布評価・化学状態評価(C0645) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
[XPS]X線光電子分光法
[SEM]走査電子顕微鏡法
[(S)TEM](走査)透過電子顕微鏡法
[TEM-EELS]電子エネルギー損失分光法
雰囲気制御下での処理
二次電池
化学結合状態評価
組成分布評価
形状評価
膜厚評価
構造評価
製品調査
Xe-PFIBを用いた広域断面のSEM観察 2020/07/16 Xe-PFIBを用いた広域断面のSEM観察(C0610) [SEM]走査電子顕微鏡法
X線CT法
[FIB]集束イオンビーム加工
LSI・メモリ
形状評価
構造評価
製品調査
Xe-プラズマFIBによる構造解析 2020/07/16 Xe-プラズマFIBによる構造解析(B0255) [SEM]走査電子顕微鏡法
[Slice&View]三次元SEM観察法
[EBSD]電子後方散乱回折法
[(S)TEM](走査)透過電子顕微鏡法
X線CT法
[FIB]集束イオンビーム加工
その他
LSI・メモリ
形状評価
構造評価
故障解析・不良解析
製品調査
二次電池正極活物質の総合評価 2020/07/09 二次電池正極活物質の総合評価(C0607) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
[ICP-MS]誘導結合プラズマ質量分析法
[SEM]走査電子顕微鏡法
[SEM-EDX]エネルギー分散型X線分光法(SEM)
[EBSD]電子後方散乱回折法
[(S)TEM](走査)透過電子顕微鏡法
[XRD]X線回折法
[SSRM]走査型広がり抵抗顕微鏡法
二次電池
組成評価・同定
化学結合状態評価
組成分布評価
形状評価
構造評価
製品調査
二次電池正極の抵抗値およびLiの分布評価 2020/07/09 二次電池正極の抵抗値およびLiの分布評価(C0606) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
[SEM]走査電子顕微鏡法
[SSRM]走査型広がり抵抗顕微鏡法
[IP法]Arイオン研磨加工
二次電池
組成分布評価
形状評価
製品調査

分析のご相談・お申し込み

知識豊富な営業担当が、最適な分析プランをご提案。
分析費用のお見積りもお気軽にお問い合わせください。
相談・お申し込みは、専用のフォームかお電話でどうぞ。

webからのお問い合わせはこちら

分析お問い合わせフォーム

お電話からのお問い合わせはこちら

ページトップへ