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【満席につき受付終了】MSTプライベートセミナーin名古屋 開催のお知らせ 2016年8月5日(金)

2016/06/30

セミナー

MST主催のプライベートセミナーを名古屋にて開催いたします。皆様のご参加を心よりお待ちしております。

※本セミナーは満席のため、受付を終了させていただきました。

概要

おかげさまで本年もMST 主催プライベートセミナーを名古屋にて開催の運びとなりました。
研究開発・品質管理に携わる皆様に向け、分析技術の入門講座と最新の分析事例紹介をご用意しております。
今回は新たな取り組みとして、分析現場で多くのお客様からいただくご質問を詳細に解説する「一問一答・入門編」と題したプログラムを充実いたしました。
分析現場で培った「MST ならではのご説明」で皆様方のお仕事に微力ながらお役に立てましたら幸いです。
スタッフ一同、皆様のご来場をお待ちしております。

開催日時

2016年8月5日(金)
セミナー開始10:30(受付開始10:00 ~)閉場18:00
※開催時間の入退室はご自由に行えます。
お好きなタイトルのみ聴講いただけます。

開催場所

ウインクあいち(愛知県産業労働センター)
〒450-0002 愛知県名古屋市中村区名駅4丁目4-38
9階902大会議室
http://www.winc-aichi.jp/access/

参加特典

  • 分析料金10%割引チケット
    分析のご依頼時にぜひご利用ください。
    ※他の割引との併用は出来ません。

セミナープログラム

10:00 ~ 10:30 受付・開場
10:30 ~ 10:45 主催者ご挨拶
10:45 ~ 11:00 いまさら聞けない分析手法の選択
11:00 ~ 11:30 一問一答 表面分析技術の入門編(SIMS・TOF-SIMS)
11:30 ~ 11:50 一問一答 表面分析技術の入門編(XPS・UPS)
11:50 ~ 12:50 受付・質疑応答&お昼休み
12:50 ~ 13:20 一問一答 プローブ顕微鏡の入門編(SPM)
13:20 ~ 13:40 一問一答 微小部解析技術の入門編(SEM)
13:40 ~ 14:10 一問一答 微小部解析技術の入門編(TEM・STEM)
14:10 ~ 14:40 故障・構造解析の事例紹介(EMS・Slice&View・TEM)
14:40 ~ 15:10 異物分析の事例紹介(EDX・IR・Raman・XRD・TOF-SIMS)
15:10 ~ 15:30 質疑応答&休憩
15:30 ~ 15:50 ナノスケールの計算科学シミュレーション
15:50 ~ 16:15 放射光利用分析(XAFS)
16:15 ~ 16:40 食品・化粧品・塗料の事例紹介(クライオSEM観察)
16:40 ~ 17:00 ライフサイエンス分野の事例紹介(TOF-SIMS)
17:00 ~ 18:00 全体質問&ポスター展示・分析相談(Q&A)

参加申し込み

  • 参加費は無料です。
  • 受付フォームよりお申し込みください。
    ※本セミナーは満席のため、受付を終了させていただきました。
  • お申し込みの無い方の入場はお断りさせていただく場合がございます。
  • 本イベントは定員制のため、申し込み多数の場合はご希望に沿えない場合がございます。
  • 同業の分析会社、及びその関連会社の方は、お申し込みをお断りしております。あらかじめご了承ください。

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