MST主催のプライベートセミナーを名古屋にて開催いたします。皆様のご参加を心よりお待ちしております。
※本セミナーは満席のため、受付を終了させていただきました。
概要
おかげさまで本年もMST 主催プライベートセミナーを名古屋にて開催の運びとなりました。
研究開発・品質管理に携わる皆様に向け、分析技術の入門講座と最新の分析事例紹介をご用意しております。
今回は新たな取り組みとして、分析現場で多くのお客様からいただくご質問を詳細に解説する「一問一答・入門編」と題したプログラムを充実いたしました。
分析現場で培った「MST ならではのご説明」で皆様方のお仕事に微力ながらお役に立てましたら幸いです。
スタッフ一同、皆様のご来場をお待ちしております。
開催日時
2016年8月5日(金)
セミナー開始10:30（受付開始10:00 ～）閉場18:00
※開催時間の入退室はご自由に行えます。
お好きなタイトルのみ聴講いただけます。
開催場所
ウインクあいち(愛知県産業労働センター)
〒450-0002 愛知県名古屋市中村区名駅4丁目4-38
9階902大会議室
http://www.winc-aichi.jp/access/
参加特典
- 分析料金10％割引チケット
分析のご依頼時にぜひご利用ください。
※他の割引との併用は出来ません。
セミナープログラム
| 10：00 ～ 10：30 |
受付・開場 |
| 10：30 ～ 10：45 |
主催者ご挨拶 |
| 10：45 ～ 11：00 |
いまさら聞けない分析手法の選択 |
| 11：00 ～ 11：30 |
一問一答 表面分析技術の入門編(SIMS・TOF-SIMS) |
| 11：30 ～ 11：50 |
一問一答 表面分析技術の入門編(XPS・UPS) |
| 11：50 ～ 12：50 |
受付・質疑応答＆お昼休み |
| 12：50 ～ 13：20 |
一問一答 プローブ顕微鏡の入門編(SPM) |
| 13：20 ～ 13：40 |
一問一答 微小部解析技術の入門編(SEM) |
| 13：40 ～ 14：10 |
一問一答 微小部解析技術の入門編(TEM・STEM) |
| 14：10 ～ 14：40 |
故障・構造解析の事例紹介(EMS・Slice&View・TEM) |
| 14：40 ～ 15：10 |
異物分析の事例紹介(EDX・IR・Raman・XRD・TOF-SIMS) |
| 15：10 ～ 15：30 |
質疑応答＆休憩 |
| 15：30 ～ 15：50 |
ナノスケールの計算科学シミュレーション |
| 15：50 ～ 16：15 |
放射光利用分析(XAFS)
|
| 16：15 ～ 16：40 |
食品・化粧品・塗料の事例紹介(クライオSEM観察) |
| 16：40 ～ 17：00 |
ライフサイエンス分野の事例紹介(TOF-SIMS) |
| 17：00 ～ 18：00 |
全体質問＆ポスター展示・分析相談(Q&A) |
参加申し込み