信頼性試験の一覧は
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特徴
・高温下あるいは高温高湿下で、パワーデバイスのコレクタ-エミッタ間、ドレイン-ソース間の電流が流れにくい向きにバイアスを印加する耐久試験です。
・試験中のリーク電流を経時的にモニターし、絶縁破壊までの挙動を観察できます。
・AQG324,JEITA ED-4701等各種規格に対応可能です。
適用例
・パワーデバイスのゲート絶縁膜の耐圧性の評価
・パワーデバイスの樹脂パッケージにおける絶縁性劣化の評価
仕様
最大印加電圧 ：DC 3,000V
最小電流計測範囲 ：100 fA
絶縁抵抗値(リーク電流値) ：常時モニタ
環境制御
- オーブン
温度範囲： 最大300℃
- 恒温恒湿槽
温度範囲： -40℃～150℃
湿度範囲： 20%RH～98%RH
- HAST槽
温度範囲： 105℃～150℃
湿度範囲： 65%RH～100%RH
料金
別途ご相談ください。
速報納期
都度ご相談ください。
必要情報
- 目的/測定内容
- 試料情報
(1)数量、サイズ、定格電流、試験対象回路
(2)取り扱い上の注意点
- 試験条件
(1)温湿度条件
(2)印加電圧
(3)試験時間
(4)故障判定抵抗値
- 納期
(1)ご希望の速報納期
- その他の留意点
注意点
・絶縁抵抗値(リーク電流値)の経時データグラフ、故障判定値に到達した時間を報告書に記載します。
・絶縁抵抗値(リーク電流値)の経時値のcsvデータをご希望の際はご相談ください。