分析手法冊子 電子版リリースのお知らせ

ご好評により、分析手法冊子 電子版を配布しております。
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手法冊子一覧

• TEMの基礎
• TEMの応用と事例
• SIMSの基礎と事例
• 表面分析の基礎と事例〈XPS・TOF-SIMS〉
• クロマトグラフィーの基礎と分析事例
• SPMによるキャリア分布評価の基礎と事例〈SCM・SNDM・SMM〉
• X線・超音波を用いた非破壊検査の基礎と事例

	TEMの基礎 ・TEM,STEMで何がわかるか ・TEM,STEMの特徴 ・試料作成方法 ・コントラストの要因 ・TEMとSTEMの使い分け ・超高分解能HAADF観察 ・TEM,STEMによる組成、結晶構造分析 ・分析手法基礎編
	TEMの応用と事例 ・TEMの応用 ・分析事例 ・像観察、元素分析、結晶構造分析 ・他手法との複合解析 ・シミュレーション、AI等によるデータ解析
	SIMSの基礎と事例 ・SIMSとは？ ・SIMSの使い分け ・Dynamic-SIMSでできること ・手法の詳細情報：SIMS　二次イオン質量分析法 ・分析事例
	表面分析の基礎と事例〈XPS・TOF-SIMS〉 ・表面分析とは？ ・表面分析の使い分け ・XPS分析でできること ・TOF-SIMS分析でできること ・各手法の詳細情報：XPS　X線光電子分光法 ・各手法の詳細情報：TOF-SIMS　飛行時間型二次イオン質量分析法 ・分析事例
	クロマトグラフィーの基礎と分析事例 ・クロマトグラフィーとは？ ・クロマトグラフィーでできること ・クロマトグラフィーで測れるもの ・各手法の詳細情報：GC/MS　ガスクロマトグラフィー質量分析法 ・各手法の詳細情報：LC/MS　液体クロマトグラフィー質量分析法 ・分析事例
	SPMによるキャリア分布評価の基礎と事例〈SCM・SNDM・SMM〉 ・SPM（走査型プローブ顕微鏡）とは？ ・SCM,SNDM の基礎 ・SMM の基礎 ・キャリア分布評価手法の使い分け ・キャリア分布評価の流れと取り組み ・分析事例
	X線・超音波を用いた非破壊検査の基礎と事例 ・X線・超音波を用いた非破壊分析の手法紹介 ・分析事例

注意事項

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Webセミナーを実施いたします

本冊子をもとにセミナーを開催いたします。
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