信頼性試験の一覧は
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特徴
・JESD51-14に基づいてパワーデバイス、放熱基板などの過渡熱抵抗値(Rthjc)を測定します。
・パワーデバイスであれば実機のまま試験可能です。放熱基板等を試験する場合には発熱源として
各種半導体チップを実装する必要があります。
・試験用デバイスの試作も対応しており、部材単体のご提供でも評価が可能です。
適用例
・パワーデバイスのRthjc の評価
・放熱基板の過渡熱抵抗の評価
・TIM材の性能評価
※試験条件は各種ご要望に応じて対応可能です、ご相談ください。
仕様
試験機： 最大電流値/測定ch数/最大印加電圧
1号機： 1800A/12ch/12V
2号機： 2400A/16ch/12V
3号機： 2400A/16ch/12V
・注意
試験条件の設定は4ch毎となります。
料金
別途ご相談ください。
速報納期
別途ご相談ください。
必要情報
- 目的/測定内容
- 試料情報
(1) 数量、サイズ、定格電流、試験対象回路
(2) 取り扱い上の注意点
- 試験条件
(1) 測定電流値、加熱電流値
(2) On/Off 時間
(3) コールドプレート温度
- 納期
(1) ご希望の速報納期
- その他留意点
注意点
・構造関数作成、Rthjc算出以外の測定結果の解析は別途費用が発生いたします。
・試験サンプルには配線用の端子や電極をご用意ください。