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【満席につき受付終了】MSTプライベートセミナーin大阪 開催のお知らせ 2017年6月9日(金)

2017/04/28

セミナー

MST主催のプライベートセミナーを大阪にて開催いたします。皆様のご参加を心よりお待ちしております。

※本セミナーは満席のため、受付を終了させていただきました。

概要

おかげさまで本年もMST主催プライベートセミナーを大阪にて開催の運びとなりました。
研究開発・品質管理に携わる皆様に向け、分析技術の入門講座と最新の事例紹介をご用意しております。
更に今回は様々な分野で注目されるAIをキーワードに「AIが結ぶMSTの分析技術」についてご紹介致します。
分析現場で培った「MSTならではのご説明」で皆様方のお仕事に微力ながらお役に立てましたら幸いです。
スタッフ一同、皆様のご来場をお待ちしております。

開催日時

2017 年6 月9 日(金)
セミナー開始10:30(受付開始10:00 ~)閉場18:00
※開催時間の入退室はご自由に行えます。
お好きなタイトルのみ聴講いただけます。

開催場所

AP大阪駅前梅田1丁目 地下2F APホール
〒530-0001 大阪市北区梅田1丁目12番12号
東京建物梅田ビル地下2F(旧渡辺リクルートビル) APホール
http://www.ap-osakaekimae.com/info/access.html

参加特典

  • 分析料金10%割引チケット
    分析のご依頼時にぜひご利用ください。
    ※他の割引との併用は出来ません。

セミナープログラム

10:00 ~ 10:30 受付 開場
10:30 ~ 11:00 食品・化粧品・塗料の分析事例 (クライオSEM観察)
11:00 ~ 11:20 加熱発生ガス分析の分析事例 (TDS・TG-DTA-MS・EGA-MS・GC/MS)
11:20 ~ 11:40 ライフサイエンス分野の分析事例 (TOF-SIMS)
11:40 ~ 12:00 有機系デバイスの最新分析事例
12:00 ~ 13:00 受付・質疑応答&お昼休み
13:00 ~ 13:20 主催者ご挨拶
13:20 ~ 13:35 分析手法の選択
13:35 ~ 13:55 AIが結ぶMSTの最新分析技術
13:55 ~ 14:15 CMOSセンサの分析事例[TEMデータの数量化]
14:15 ~ 14:35 磁気デバイスの分析事例
14:35 ~ 14:55 SiCを中心としたパワーデバイスの分析事例
14:55 ~ 15:20 質疑応答&ポスター展示・分析相談(Q&A)&休憩
15:20 ~ 15:40 一問一答 異物分析の事例紹介 (金属・有機物の汚染評価)
15:40 ~ 16:00 一問一答 微小部解析技術の入門編・分析事例 (SEM・Slice&View)
16:00 ~ 16:20 一問一答 微小部解析技術の入門編・分析事例 (TEM・STEM)
16:20 ~ 16:40 一問一答 表面分析技術の入門編・分析事例 (SIMS・TOF-SIMS)
16:40 ~ 17:00 一問一答 表面分析技術の入門編・分析事例 (XPS)
17:00 ~ 18:00 全体質問&ポスター展示・分析相談(Q&A)

参加申し込み

  • 参加費は無料です。
  • 受付フォームよりお申し込みください。
    ※本セミナーは満席のため、受付を終了させていただきました。
  • お申し込みの無い方の入場はお断りさせていただく場合がございます。
  • 本イベントは定員制のため、申し込み多数の場合はご希望に沿えない場合がございます。
  • 同業の分析会社、及びその関連会社の方は、お申し込みをお断りしております。あらかじめご了承ください。

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