MST主催のプライベートセミナーを名古屋にて開催いたします。皆様のご参加を心よりお待ちしております。
※本セミナーは満席のため、受付を終了させていただきました。
概要
おかげさまで本年もMST主催プライベートセミナーを名古屋にて開催の運びとなりました。
研究開発・品質管理に携わる皆様に向け、分析技術の入門講座と最新の事例紹介をご用意しております。
更に今回は様々な分野で注目されるAIをキーワードに「AIが結ぶMSTの分析技術」についてご紹介致します。
分析現場で培った「MSTならではのご説明」で皆様方のお仕事に微力ながらお役に立てましたら幸いです。
スタッフ一同、皆様のご来場をお待ちしております。
開催日時
2017 年8 月4 日(金)
セミナー開始10:30（受付開始10:00 ～）閉場18:00
※開催時間の入退室はご自由に行えます。
お好きなタイトルのみ聴講いただけます。
開催場所
ウインクあいち（愛知県産業労働センター）10階
- 1008 受付・ポスターセッション
- 1001 講演
〒450-0002 愛知県名古屋市中村区名駅4丁目4-38
ウインクあいち（愛知県産業労働センター）
http://www.winc-aichi.jp/access/
参加特典
- 分析料金10％割引チケット
分析のご依頼時にぜひご利用ください。
※他の割引との併用は出来ません。
セミナープログラム
| 10：00 ～ 10：30 |
受付・開場 |
| 10：30 ～ 10：50 |
一問一答 微小部解析技術の入門編・分析事例 (SEM・Slice&View) |
| 10：50 ～ 11：10 |
一問一答 微小部解析技術の入門編・分析事例 (TEM・STEM) |
| 11：10 ～ 11：30 |
一問一答 表面分析技術の入門編・分析事例 (SIMS・TOF-SIMS) |
| 11：30 ～ 11：50 |
一問一答 表面分析技術の入門編・分析事例 (XPS) |
| 11：50 ～ 12：50 |
受付・質疑応答＆お昼休み |
| 12：50 ～ 13：10 |
主催者ご挨拶 |
| 13：10 ～ 13：25 |
分析手法の選択 |
| 13：25 ～ 13：45 |
AIが結ぶMSTの最新分析技術 |
| 13：45 ～ 14：05 |
CMOSセンサの分析事例［TEMデータの数量化］ |
| 14：05 ～ 14：25 |
質疑応答＆ポスター展示・分析相談（Q&A）&休憩 |
| 14：25 ～ 14：45 |
磁気デバイスの分析事例 |
| 14：45 ～ 15：05 |
SiCを中心としたパワーデバイスの分析事例 |
| 15：05 ～ 15：25 |
異物分析の事例紹介 (金属・有機物の汚染評価) |
| 15：25 ～ 15：45 |
有機系デバイスの最新分析事例 |
| 15：45 ～ 16：10 |
質疑応答＆ポスター展示・分析相談（Q&A）&休憩 |
| 16：10 ～ 16：30 |
食品・化粧品・塗料の分析事例 (クライオSEM観察) |
| 16：30 ～ 16：50 |
加熱発生ガス分析の分析事例 (TG-DTA-MS・EGA-MS・GC/MS・TDS) |
| 16：50 ～ 17：10 |
ライフサイエンス分野の分析事例 (TOF-SIMS) |
| 17：10 ～ 18：00 |
全体質問＆ポスター展示・分析相談（Q&A） |
参加申し込み