第4回電子デバイスフォーラム京都は、日本電子デバイス産業協会の主催する電子デバイスに関する講演・セッション・展示を主としたフォーラムです。
MSTは、本フォーラムの展示会エリアにおいて分析を用いたソリューションをご提案いたします。
皆様のご来場を心よりお待ちしております。
会期
2017年11月1日(水)～2日(木) 10:00～18:00
会場
京都リサーチパーク(KRP)東地区1号館、西地区4号館
※会場までの交通案内は、京都リサーチパークのWebサイトをご覧ください。
主催者ウェブサイト
http://www.nedia.or.jp/jigyou/seminar/6816
出展場所
中会議室A No.21
展示内容
MSTの受託分析サービスを事例をもとにご紹介します。
技術営業担当が常駐しておりますので、お気軽にご相談ください。
- SiC中不純物の超高感度測定
- イメージセンサーの拡散層評価
- エッチング残渣の発生原因調査
- TOF-SIMSを用いたセラミックスの分析
- チタン酸ストロンチウムSrTiO3の原子カラム観察
- 有機ELディスプレイの総合評価