SEMICON Japanは、世界を代表するマイクロエレクトロニクス国際展示会です。
MSTは、本展示会において分析を用いたソリューションをご提案いたします。
皆様のご来場を心よりお待ちしております。
会期
2017年12月13日(水)～15日(金) 10:00～17:00
会場
東京ビッグサイト
※会場までの交通案内は、東京ビッグサイトのWebサイトをご覧ください。
主催者ウェブサイト
http://www.semiconjapan.org/
出展場所
東2ホール 2213
展示内容
半導体の材料・製品に関する分析事例をご紹介します。
技術営業担当が常駐しておりますので、お気軽にご相談ください。
- CMOSセンサの総合評価
- PL・TEMによるSiCパワーデバイスの結晶欠陥評価
- GC/MSによる解析
- SPM分析
- TOF-SIMSによる不良解析・異物分析 ・・他