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【終了しました】SEMICON Japan 2017へ出展します 2017年12月13日(水)~15日(金)

2017/11/23

展示会

 

SEMICON Japanは、世界を代表するマイクロエレクトロニクス国際展示会です。
MSTは、本展示会において分析を用いたソリューションをご提案いたします。
皆様のご来場を心よりお待ちしております。

会期

2017年12月13日(水)~15日(金) 10:00~17:00

会場

東京ビッグサイト
※会場までの交通案内は、東京ビッグサイトのWebサイトをご覧ください。

主催者ウェブサイト

http://www.semiconjapan.org/

出展場所

東2ホール 2213

展示内容

半導体の材料・製品に関する分析事例をご紹介します。
技術営業担当が常駐しておりますので、お気軽にご相談ください。

  • CMOSセンサの総合評価
  • PL・TEMによるSiCパワーデバイスの結晶欠陥評価
  • GC/MSによる解析
  • SPM分析
  • TOF-SIMSによる不良解析・異物分析 ・・他

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分析のご相談・お申し込み

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てむぞう&ますみん

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