SSDM（International Conference on Solid State Devices and Materials）は日本の半導体産業に多大の貢献をしてきた国際会議です。
MSTではその併設展示会にて、分析を用いたソリューションをご提案いたします。
皆様のご来場を心よりお待ちしております。
会期
2019年9月3日（火）・4日（水） 10:00～18:00
5日（木） 10:00～15:00
会場
名古屋大学 ES総合館1階 ESホール
464-8603 名古屋市千種区不老町
※会場までの交通案内は、SSDMのWebサイト（Venueのページ）をご覧ください。
主催者ウェブサイト
http://www.ssdm.jp/
展示内容
- 故障解析（パッケージ）： X線CT・Slice&Viewによる内部構造の調査
- SiCパワーデバイス評価： 欠陥部位STEM観察 / 超高感度SIMS測定
- 画像解析： 電子顕微鏡写真からの特徴量抽出