冊子「表面分析の基礎と分析事例」の配布を開始しました!
表面分析とは何か・何が測れるのか等の基礎的な解説を充実。また、表面分析を用いた代表的な事例を掲載しました。
お手元に置いて、分析サービスのご検討にぜひご活用ください。
掲載内容
- 表面分析とは?
- 表面分析の使い分け
- XPS分析でできること
- TOF-SIMS分析でできること
- XPS,TOF-SIMS分析でできること
- 各手法の詳細情報 : XPS X線光電子分光法
- 各手法の詳細情報 : TOF-SIMS 飛行時間型二次イオン質量分析法
- 分析事例
・XPSによるSiC表面の状態・膜厚評価
・Cu表面の酸化状態の定量
・XPS多点測定による広域定量マッピング
・XPSによるDLCの評価
・リチウムイオン二次電池におけるLiの結合状態別定量
他 13件
※内容は予告無く変更となる場合がございます。
お申し込み方法
分析技術に関する資料のご請求フォームより「表面分析の基礎と分析事例」にチェックしてお申し込みください。
ご希望受付順に順次発送いたします。
※同業の分析会社、及びその関連会社の方は、お申し込みをお断りすることがおります。あらかじめご了承ください。
訪問セミナー実施します
貴社にお伺いし、本冊子を元にセミナーを開催いたします。
冊子の内容に加え、最新の分析事例や質疑応答を行います。