ご希望者全員プレゼント!表面分析の基礎と分析事例
〈XPS・TOF-SIMS〉

冊子「表面分析の基礎と分析事例」の配布を開始しました!
表面分析とは何か・何が測れるのか等の基礎的な解説を充実。また、表面分析を用いた代表的な事例を掲載しました。
お手元に置いて、分析サービスのご検討にぜひご活用ください。

掲載内容

  • 表面分析とは?
  • 表面分析の使い分け
  • XPS分析でできること
  • TOF-SIMS分析でできること
  • XPS,TOF-SIMS分析でできること
  • 各手法の詳細情報 : XPS X線光電子分光法
  • 各手法の詳細情報 : TOF-SIMS 飛行時間型二次イオン質量分析法
  • 分析事例
     ・XPSによるSiC表面の状態・膜厚評価
     ・Cu表面の酸化状態の定量
     ・XPS多点測定による広域定量マッピング
     ・XPSによるDLCの評価
     ・リチウムイオン二次電池におけるLiの結合状態別定量
      他 13件

※内容は予告無く変更となる場合がございます。

お申し込み方法

分析技術に関する資料のご請求フォームより「表面分析の基礎と分析事例」にチェックしてお申し込みください。
ご希望受付順に順次発送いたします。

※同業の分析会社、及びその関連会社の方は、お申し込みをお断りすることがおります。あらかじめご了承ください。

訪問セミナー実施します

貴社にお伺いし、本冊子を元にセミナーを開催いたします。
冊子の内容に加え、最新の分析事例や質疑応答を行います。

分析のご相談・お申し込み

知識豊富な営業担当が、最適な分析プランをご提案。
分析費用のお見積りもお気軽にお問い合わせください。
相談・お申し込みは、専用のフォームかお電話でどうぞ。

webからのお問い合わせはこちら

お問い合わせフォーム

お電話からのお問い合わせはこちら

ページトップへ

てむぞう&ますみん

てむぞう&ますみん