冊子「SIMSの基礎と事例」の配布を開始しました!
SIMSとは何か・SIMSの使い分け等、手法の基礎について解説しています。また、SIMSを用いた代表的な事例を掲載しました。
お手元に置いて、分析サービスのご検討にぜひご活用ください。
掲載内容
- SIMSとは?
- SIMSの使い分け
- Dynamic-SIMSでできること
- 手法の詳細情報:SIMS 二次イオン質量分析法
- 分析事例
・ゲート電極から基板へのBの突き抜け量評価
・SiGe中不純物の高精度定量評価
・SIMSによる化合物半導体の組成分析
・化合物積層構造試料のSIMS分析
・テクスチャ付きGaN系LEDの評価
他全12件
※内容は予告無く変更となる場合がございます。
お申し込み方法
分析技術に関する資料のご請求フォームより「SIMSの基礎と事例」にチェックしてお申し込みください。
ご希望受付順に順次発送いたします。
※同業の分析会社、及びその関連会社の方は、お申し込みをお断りすることがおります。あらかじめご了承ください。
訪問セミナー実施します
貴社にお伺いし、本冊子を元にセミナーを開催いたします。
冊子の内容に加え、最新の分析事例や質疑応答を行います。