MST主催のプライベートセミナーを大阪にて開催いたします。皆様のご参加を心よりお待ちしております。
※本セミナーは満席のため、受付を終了させていただきました。
概要
おかげさまで本年もMST 主催プライベートセミナーを大阪にて開催の運びとなりました。
研究開発・品質管理に携わる皆様に向け、分析技術の入門講座と最新の分析事例紹介をご用意しております。
今回は新たな取り組みとして、分析現場で多くのお客様からいただくご質問を詳細に解説する「一問一答・入門編」と題したプログラムを充実いたしました。
分析現場で培った「MST ならではのご説明」で皆様方のお仕事に微力ながらお役に立てましたら幸いです。
スタッフ一同、皆様のご来場をお待ちしております。
開催日時
2016 年6 月17 日(金)
セミナー開始10:30（受付開始10:00 ～）閉場18:00
※開催時間の入退室はご自由に行えます。
お好きなタイトルのみ聴講いただけます。
開催場所
AP大阪駅前梅田1丁目 地下2F APホール
〒530-0001 大阪市北区梅田1丁目12番12号
東京建物梅田ビル地下2F(旧渡辺リクルートビル) APホール
http://www.ap-osakaekimae.com/info/access.html
参加特典
- 分析料金10％割引チケット
分析のご依頼時にぜひご利用ください。
※他の割引との併用は出来ません。
セミナープログラム
| 10：00 ～ 10：30 |
受付 開場 |
| 10：30 ～ 11：00 |
いまさら聞けないクロマトグラフィーの入門編 |
| 11：00 ～ 11：15 |
ライフサイエンス分野の事例紹介(TOF-SIMS) |
| 11：15 ～ 11：40 |
食品・化粧品・塗料の事例紹介(冷却SEM観察) |
| 11：40 ～ 12：00 |
計算科学シミュレーション |
| 12：00 ～ 12：20 |
放射光利用分析(XAFS) |
| 12：20 ～ 13：20 |
受付・質疑応答＆お昼休み |
| 13：20 ～ 13：35 |
主催者ご挨拶 |
| 13：35 ～ 13：50 |
いまさら聞けない分析手法の選択 |
| 13：50 ～ 14：20 |
一問一答 表面分析技術の入門編(SIMS・TOF-SIMS) |
| 14：20 ～ 14：40 |
一問一答 表面分析技術の入門編(XPS・UPS) |
| 14：40 ～ 15：10 |
一問一答 プローブ顕微鏡の入門編(SPM) |
| 15：10 ～ 15：25 |
質疑応答＆休憩 |
| 15：25 ～ 15：40 |
一問一答 微小部解析技術の入門編(SEM) |
| 15：40 ～ 16：10 |
一問一答 微小部解析技術の入門編(TEM・STEM) |
| 16：10 ～ 16：40 |
故障・構造解析の事例紹介(EMS・OBIRCH・発熱解析・TEM) |
| 16：40 ～ 17：10 |
異物分析の事例紹介(TOF-SIMS・EDX・IR・AES) |
| 17：10 ～ 18：00 |
全体質問＆ポスター展示・分析相談(Q&A) |
参加申し込み