先日開催されましたSEMICON Japan 2018におきましては、ご多忙中にもかかわらず、私どものブースにご来場いただき、誠にありがとうございました。
お蔭様をもちまして盛況のうちに展示会を終了することが出来ました。重ねてお礼申し上げます。
皆様から賜りました貴重なご意見をもとに、職員一同、より一層の分析サービス向上に励む所存でございます。
今後とも、ご指導ご鞭撻のほど、何卒宜しくお願い申し上げます。
MSTブース展示内容
- SEM 画像からの領域自動抽出
- Sn酸化物に対する還元処理の検証 ～XPSと計算シミュレーションの比較から～
- 電子顕微鏡を用いたネオジム磁石の分析事例
- X線CT・超音波顕微鏡によるパッケージ内部構造の非破壊観察
- 半導体基板中不純物の高感度分析
- 裏面エミッション発光部のSlice&View解析