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【ご来場のお礼】センサエキスポジャパン2017 2017年9月13日(水)~15日(金)

2017/09/21

展示会

先日開催されましたセンサエキスポジャパン2017におきましては、ご多忙中にもかかわらず、私どものブースにご来場いただき、誠にありがとうございました。
お蔭様をもちまして盛況のうちに展示会を終了することが出来ました。重ねてお礼申し上げます。

皆様から賜りました貴重なご意見をもとに、職員一同、より一層の分析サービス向上に励む所存でございます。
今後とも、ご指導ご鞭撻のほど、何卒宜しくお願い申し上げます。

MSTブース展示内容

  • イメージセンサーの拡散層評価
  • 裏面エミッション発光部のSlice&View解析
  • ニッケルめっき剥離面の評価
  • ステンレス不動態皮膜の深さ方向状態評価とCross Section
  • ステンレス不動態皮膜の深さ方向状態評価
  • 医療デバイス表面の汚染評価
  • 環状DNAの形状評価
  • ポリイミド樹脂の構造解析
  • ラット中インドメタシンの経皮吸収評価
  • UVセンサ AlGaN中不純物濃度の高精度評価
  • ポリカーボネートの劣化評価
  • テープ粘着剤の構造解析
  • 高分子フィルム中の添加物成分分析
  • TOF-SIMSによるノズル表面・内壁の分析
  • 表面酸化膜のある異物の状態評価

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