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【満席につき受付終了】MSTプライベートセミナーin名古屋 開催のお知らせ
2018年8月3日(金)

2018/07/05

セミナー

MST主催のプライベートセミナーを名古屋にて開催いたします。皆様のご参加を心よりお待ちしております。

※本セミナーは満席のため、受付を終了させていただきました。

概要

おかげさまで本年もMST主催プライベートセミナーを名古屋にて開催の運びとなりました。
研究開発・品質管理に携わる皆様に向け、分析技術の入門講座と最新の事例紹介をご用意しております。
更に今回は「新製品コーナー」として、AIを活用した分析、非破壊検査、経皮吸収の複合分析をご紹介致します。
分析現場で培った「MSTならではのご説明」で皆様方のお仕事に微力ながらお役に立てましたら幸いです。
スタッフ一同、皆様のご来場をお待ちしております。

開催日時

2018年8月3日(金)
セミナー開始10:30(受付開始10:00 ~)閉場18:00
※開催時間の入退室はご自由に行えます。
お好きなタイトルのみ聴講いただけます。

開催場所

ウインクあいち(愛知県産業労働センター)
〒450-0002 愛知県名古屋市中村区名駅4丁目4-38
9階901大会議室、907・908小会議室
http://www.winc-aichi.jp/access/

参加特典

  • 分析料金10%割引チケット
    分析のご依頼時にぜひご利用ください。
    ※他の割引との併用は出来ません。

セミナープログラム

10:00~10:30 受付・開場
10:30~10:45 ご案内 主催者ご挨拶
10:45~11:00 分析手法の選択
11:00~11:15  新製品コーナー AIを活用した分析事例紹介
11:15~11:35 非破壊検査の可能性を探る
11:35~11:55 経皮吸収・歯科インプラント・錠剤の複合分析
(TOF-SIMSを中心に)
11:55~13:00  受付・質疑応答&お昼休み
13:00~13:20  分析技術入門 一問一答 微小部解析技術の入門編・分析事例
(SEM・Slice&View)
13:20~13:40 一問一答 微小部解析技術の入門編・分析事例
(TEM・STEM)
13:40~14:00 一問一答 表面分析技術の入門編・分析事例
(SIMS・TOF-SIMS)
14:00~14:20 一問一答 表面分析技術の入門編・分析事例
(XPS・XAFS)
14:20~14:35  質疑応答&休憩
14:35~14:55  最新分析事例
(ライフサイエンス)
水溶液下での表面形状評価事例 (AFM)
14:55~15:15 身近な流体の凍結構造観察 (クライオSEM)
15:15~15:35 製品・材料からの加熱発生ガス分析 (GC/MS)
15:35~15:50 質疑応答&休憩
15:50~16:10  最新分析事例
(エレクトロニクス・
自動車分野)
めっきと酸化膜の膜厚測定事例 (計算値vs実計値)
16:10~16:30 故障箇所の特定から原因特定まで
16:30~16:50 GaNパワーデバイスおよび強誘電体材料の分析事例 (SNDM)
16:50~17:10  電子顕微鏡を用いたネオジム磁石の分析事例
17:10~17:30  センサーシリーズⅡ 光デバイスの分析事例
17:30~18:00  全体質問&ポスター展示・分析相談(Q&A)

参加申し込み

  • 参加費は無料です。
  • 受付フォームよりお申し込みください。
    ※本セミナーは満席のため、受付を終了させていただきました。
  • お申し込みの無い方の入場はお断りさせていただく場合がございます。
  • 本イベントは定員制のため、申し込み多数の場合はご希望に沿えない場合がございます。
  • 同業の分析会社、及びその関連会社の方は、お申し込みをお断りしております。あらかじめご了承ください。

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