MST主催のプライベートセミナーを名古屋にて開催いたします。皆様のご参加を心よりお待ちしております。
※本セミナーは満席のため、受付を終了させていただきました。
分析の基礎から最新の分析事例までのご紹介
おかげさまで本年もMST主催プライベートセミナーを名古屋にて開催の運びとなりました。
研究開発・品質管理に携わる皆様に向け、分析技術の入門講座と最新の事例紹介をご用意しております。
更に今回は「新製品コーナー」として、AIを活用した分析に加え、非破壊検査、GaN系デバイス等の分析事例をご紹介致します。
分析現場で培った「MSTならではのご説明」で皆様方のお仕事に微力ながらお役に立てましたら幸いです。
スタッフ一同、皆様のご来場をお待ちしております。
開催日時
2019年8月1日(木)
セミナー開始10:30（受付開始10:00 ～）閉場18:00
※開催時間の入退室はご自由に行えます。
お好きなタイトルのみ聴講いただけます。
開催場所
ウインクあいち（愛知県産業労働センター）5階 小ホール2
〒450-0002 愛知県名古屋市中村区名駅4丁目4-38
http://www.winc-aichi.jp/access/
参加特典
- 分析料金10％割引チケット
分析のご依頼時にぜひご利用ください。
※他の割引との併用は出来ません。
ご案内チラシ（PDF）
セミナープログラム
| 10:00～10:30 |
受付・開場 |
| 10:30～10:45 |
ご案内 |
主催者ご挨拶 |
| 10:45～11:00 |
分析手法の選択 |
| 11:00～11:20 |
新製品コーナー |
AIを活用した分析事例紹介 Part3 |
| 11:20～11:25 |
質疑応答 |
| 11:25～11:45 |
非破壊分析の事例 ～新規導入クライオX線CT測定～ |
| 11:45～12:00 |
高機能自動化SIMSの導入と最新の分析事例 |
| 12:00～13:00 |
受付・質疑応答＆お昼休み |
| 13:00～13:20 |
分析技術入門 |
一問一答 微小部解析技術の入門編・分析事例 (SEM・Slice&View） |
| 13:20～13:40 |
一問一答 微小部解析技術の入門編・分析事例 (TEM・STEM) |
| 13:40～13:50 |
質疑応答 |
| 13:50～14:10 |
一問一答 表面分析技術の入門編・分析事例 (SIMS・TOF-SIMS) |
| 14:10～14:30 |
一問一答 表面分析技術の入門編・分析事例 (XPS・XAFS) |
| 14:30～14:50 |
質疑応答＆休憩 |
| 14:50～15:10 |
最新分析事例
（エレクトロニクス・工業分野） |
SNDMによるキャリア分布評価事例紹介 LSIから強誘電体材料まで |
| 15:10～15:30 |
故障解析と電子顕微鏡等を用いた積層セラミックコンデンサの分析事例 |
| 15:30～15:50 |
電子顕微鏡による記憶素子の分析事例紹介 |
| 15:50～16:10 |
質疑応答＆休憩 |
| 16:10～16:30 |
最新分析事例
（有機分析） |
有機材料の劣化による変色調査（ポリウレタンの黄変等） |
| 16:30～16:50 |
クライオSEMによるソフトマテリアルの構造観察 |
| 16:50～17:10 |
ライフサイエンス分野と経皮吸収の複合分析 (高機能TOF-SIMS) |
| 17:10～18:00 |
全体質問＆ポスター展示・分析相談（Q&A） |
参加申し込み
※本セミナーは満席のため、受付を終了させていただきました。
- 参加費は無料です。
-
お申し込みの無い方の入場はお断りさせていただく場合がございます。
- 本イベントは定員制のため、申し込み多数の場合はご希望に沿えない場合がございます。
- 同業の分析会社、及びその関連会社の方は、お申し込みをお断りしております。あらかじめご了承ください。