先日開催されましたJSAP EXPO Autumn 2019におきましては、ご多忙中にもかかわらず、私どものブースにご来場いただき、誠にありがとうございました。
お蔭様をもちまして盛況のうちに展示会を終了することが出来ました。重ねてお礼申し上げます。
皆様から賜りました貴重なご意見をもとに、職員一同、より一層の分析サービス向上に励む所存でございます。
今後とも、ご指導ご鞭撻のほど、何卒宜しくお願い申し上げます。
MSTブース展示内容
- 受託分析
~公正中立な第三者機関として分析・解析技術でお客様の研究開発を支援します~
- 故障解析(パッケージ)
~X線CT・Slice&Viewによる内部構造の調査~
- SiCパワーデバイス評価
~欠陥部位STEM観察/超高感度SIMS測定~
- 画像解析
~電子顕微鏡写真からの特徴量抽出~