受託分析サービス一覧

各分析手法における特徴・原理等の詳細情報を詳しくご紹介します。記載の無い手法につきましても、お気軽にお問い合わせください。

                          
手法名(和名) 測定法(略号)
電子顕微鏡観察・分析
走査電子顕微鏡法 SEM
エネルギー分散型X線分析法(SEM) SEM-EDX
電子プローブマイクロアナライザー EPMA
集束イオンビーム質量分析法 FIB-MS
三次元SEM観察法 Slice&View
電子線誘起電流 EBIC
電子ビーム吸収電流法 EBAC
電子後方散乱回折法 EBSD
(走査)透過電子顕微鏡法 (S)TEM
エネルギー分散型X線分光法(TEM) TEM-EDX
電子エネルギー損失分光法 TEM-EELS
電子回折法 ED
TEM電子回折マッピング法 TEM ED-Map
走査イオン顕微鏡法 SIM
質量分析法
二次イオン質量分析法 SIMS
飛行時間型二次イオン質量分析法 TOF-SIMS
マトリックス支援レーザー脱離イオン化質量分析法 MALDI-MS
ガスクロマトグラフィー質量分析法 GC/MS
液体クロマトグラフィー質量分析法 LC/MS
高速液体クロマトグラフ法 HPLC
イオンクロマトグラフ法 IC
誘導結合プラズマ質量分析法 ICP-MS
昇温脱離ガス分析法 TDS
グロー放電質量分析法 GDMS
SPM関連
広がり抵抗測定法 SRA
走査型静電容量顕微鏡法
走査型非線形誘電率顕微鏡法
SCM
SNDM
走査型マイクロ波顕微鏡法 SMM
走査型広がり抵抗顕微鏡法 SSRM
原子間力顕微鏡法 AFM
機械特性評価(弾性率測定・動的粘弾性率測定) AFM-MA・AFM-DMA
AFM赤外分光分析 AFM-IR
磁気力顕微鏡法 MFM
非破壊検査・故障解析
X線CT法
超音波顕微鏡法 C-SAM
エミッション顕微鏡法 EMS
光ビーム加熱抵抗変動法 OBIRCH
ロックイン発熱解析法   
電子分光法
オージェ電子分光法 AES
X線光電子分光法 XPS
硬X線光電子分光法 HAXPES
紫外光電子分光法 UPS
X線吸収微細構造 XAFS
軟X線発光分光法 SXES
X線回折関連
X線回折法 XRD
X線反射率法 XRR
X線小角散乱法 SAXS
振動分光
フーリエ変換赤外分光法 FT-IR
PTIR検出方式サブミクロン赤外分光分析法 O-PTIR
ラマン分光法 Raman
信頼性試験
耐候性試験
恒温恒湿試験
TCC試験
熱衝撃試験
振動試験
衝撃試験
接合強度試験
はんだ耐熱性試験
はんだ濡れ性試験
気密性試験
PIND試験
ESD試験
 そのほかの測定法
マスアレイ法
核磁気共鳴分析 NMR
白色干渉計測法  
全有機体炭素測定 TOC
カールフィッシャー滴定法  
熱重量示差熱分析
示差熱天秤‐質量分析法

TG-DTA
TG-DTA-MS
示差走査熱量測定 DSC
フォトルミネッセンス法 PL
蛍光光度法
絶対PL量子収率測定  
蛍光寿命測定  
紫外可視分光法 UV-Vis
蛍光X線分析法 XRF
ラザフォード後方散乱分析法 RBS
計算科学・AI・データ解析 AI
ナノシミュレーション  
酵素結合免疫吸着測定法
ELISA
加工法・処理法
集束イオンビーム加工 FIB
Arイオンミリング加工  
ウルトラミクロトーム加工  
Arイオン研磨加工 IP法
クライオ加工  
基板側からの測定用加工 SSDP用加工
雰囲気制御下での処理  
レーザー加工  
電子染色  

分析手法ウィザード

分析目的に合った分析手法をご提案します。

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分析解説動画

分析手法の原理紹介や分析事例の解説を動画で紹介。分析知識の理解にお役立てください。タブレット・スマートフォンからも閲覧いただけます。

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