Si系太陽電池のBSF層の評価(C0136)
断面イメージングSIMSにより面内分布のある不純物評価が可能
概要
表面に凹凸のある太陽電池について、凹凸の影響を避けて面内分布評価を行う方法として、断面加工試料をイメージングSIMSにより評価した事例を紹介します。断面SCMによりp+ Si層と判定された領域では、BとAlが高濃度存在することが分かりました。さらに、ラインプロファイルを用いてドーパント分布を濃度変換し、面内の不均一の度合いを数値化しました。太陽電池以外にもパワーデバイスなどの深い接合評価、トレンチ間・内部の不純物分布評価などに適用できます。
データ
[Ref.] 石川,村田,武田,山田, 第56回応用物理学関係連合講演会（2009年春季1a-P14-17）