nanoTAによる局所熱特性評価(B0261)

局所熱分析システム（Nanoscale Thermal Analysis ）

nanoTA 測定原理

試料表面の局所における、熱特性（ガラス転移,軟化温度,融解温度,膨張傾向）を測定する熱分析法です。試料表面に接地するプローブを加熱し、試料表面の温度を変化させます。図中では①昇温時試料膨張がはじまり、②転移温度に到達するまでDeflectionが変化、③転移温度後変化した試料へプローブの侵入を示しております。温度変化時のDeflectionをモニタリングし、測定点ごとに転移温度をマッピングデータを取得することも可能です。

分析事例

ポリカプトラクトン(PCL)/ポリスチレン(PS)のコンポジット薄膜の転移温度マッピング評価

領域Aに面内分布あり、PCLとPSの混在が示唆される

PS/PCL コンポジット薄膜の転移温度解析

Point

転移温度マッピング

転移温度解析(Deflection curve)

領域AはPCLとPSの混在が示唆され、
組成の不均一性が軟化の挙動に影響していると考えられる

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MST技術資料No.	B0261
掲載日	2020/10/01
製品分野	その他
分析目的	その他

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掲載日	タイトル	測定法・加工法	製品分野	分析目的
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