nanoTAによる局所熱特性評価(B0261)
局所熱分析システム (Nanoscale Thermal Analysis )
nanoTA 測定原理
試料表面の局所における、熱特性(ガラス転移,軟化温度,融解温度,膨張傾向)を測定する熱分析法です。試料表面に接地するプローブを加熱し、試料表面の温度を変化させます。図中では①昇温時試料膨張がはじまり、②転移温度に到達するまでDeflectionが変化、③転移温度後変化した試料へプローブの侵入を示しております。温度変化時のDeflectionをモニタリングし、測定点ごとに転移温度をマッピングデータを取得することも可能です。
分析事例
ポリカプトラクトン(PCL)/ポリスチレン(PS)のコンポジット薄膜の転移温度マッピング評価
領域Aに面内分布あり、PCLとPSの混在が示唆される
PS/PCL コンポジット薄膜の転移温度解析
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Point
- 転移温度マッピング
→試料面内の均一性・局在性の有無
を確認可能
- 転移温度解析(Deflection curve)
→各測定点における
転移温度・軟化の挙動を解析可能
昇温速度:5~500℃/秒で選択可
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領域AはPCLとPSの混在が示唆され、
組成の不均一性が軟化の挙動に影響していると考えられる
MST技術資料No. | B0261 |
掲載日 | 2020/10/01 |
製品分野 | その他
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分析目的 | その他
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