金属材料の蛍光X線分析事例(C0340)

金属組成評価として、始めにXRF分析での元素スクリーニングをお勧めします

概要

元素分析を行う際、まずはXRF分析を用いて非破壊で対象に含まれる元素を調べてから詳細な分析に移っていくことで、効率の良い評価計画を立てることができます。
本事例では、金属切断用の刃を対象としてXRF分析を行ったデータを紹介します。
mmオーダーの広範囲にて面分析を行うことで材料中の金属元素の分布をおおまかに調べ、特徴的な箇所のXRF点分析結果から元素組成を算出することで金属材料の推定を行いました。

データ

汎用切断機に使用される刃の一部(図1)について蛍光X線の面分析を行いました(図2)。その結果、刃先と基材の元素分布に差が見られ、刃先では基材に含有されていないMoやCoの分布が確認されました。

さらに詳細な組成を調べるために、刃先(Point1)と基材(Point2)について照射X線を約10μmφに絞りスポット測定を行いました(図3)。得られたスペクトルの各元素のXRF強度から組成について半定量計算を行った結果、表1のように刃先にはFeに高速度工具鋼に相当するような金属が添加されていること分かりました。

このように、蛍光X線分析は構成元素が不明な試料に対するスクリーニング分析に有効な手法です。
一般的なSUS・ニッケル合金などの各種合金種(型番)の推定が可能です。

MST技術資料No.C0340
掲載日2014/05/15
測定法・加工法[XRF]蛍光X線分析法
製品分野製造装置・部品
日用品
分析目的組成評価・同定
組成分布評価
故障解析・不良解析

関連する分析事例

イメージ 掲載日 タイトル 測定法・加工法 製品分野 分析目的
XRFによるウエハ上Au薄膜の面内膜厚評価 2017/08/24 XRFによるウエハ上Au薄膜の面内膜厚評価(C0480) [XRF]蛍光X線分析法
パワーデバイス
照明
製造装置・部品
組成評価・同定
組成分布評価
XRFによるウエハ上Au薄膜の付着量評価 2017/08/24 XRFによるウエハ上Au薄膜の付着量評価(C0479) [XRF]蛍光X線分析法
パワーデバイス
照明
製造装置・部品
組成評価・同定
組成分布評価
粉体異物の定性分析 2016/02/18 粉体異物の定性分析(C0408) [FT-IR]フーリエ変換赤外分光法
[XRD]X線回折法
[XRF]蛍光X線分析法
電子部品
製造装置・部品
組成評価・同定
化学結合状態評価
故障解析・不良解析
金属材料の蛍光X線分析事例 2014/05/15 金属材料の蛍光X線分析事例(C0340) [XRF]蛍光X線分析法
製造装置・部品
日用品
組成評価・同定
組成分布評価
故障解析・不良解析
プラスチック容器の表面金属汚染評価 2012/09/20 プラスチック容器の表面金属汚染評価(C0227) [XRF]蛍光X線分析法
医薬品
化粧品
日用品
組成評価・同定
組成分布評価
CIGS薄膜の組成分布分析 2012/08/23 CIGS薄膜の組成分布分析(C0236) [SIMS]二次イオン質量分析法
[ICP-MS]誘導結合プラズマ質量分析法
[XRF]蛍光X線分析法
その他
太陽電池
組成評価・同定
組成分布評価
膜厚評価
製品調査
微小部XRD分析による結晶構造評価 2012/07/05 微小部XRD分析による結晶構造評価(C0246) [XRD]X線回折法
[XRF]蛍光X線分析法
LSI・メモリ
電子部品
組成評価・同定
構造評価
白色粉体の複合分析 2011/09/22 白色粉体の複合分析(C0217) [FT-IR]フーリエ変換赤外分光法
[XRF]蛍光X線分析法
LSI・メモリ
ディスプレイ
製造装置・部品
組成評価・同定
化学結合状態評価

分析のご相談・お申し込み

知識豊富な営業担当が、最適な分析プランをご提案。
分析費用のお見積りもお気軽にお問い合わせください。
相談・お申し込みは、専用のフォームかお電話でどうぞ。

webからのお問い合わせはこちら

分析お問い合わせフォーム

お電話からのお問い合わせはこちら

ページトップへ