化学修飾XPSによる官能基の定量(C0357)

高分子フィルムの極性官能基評価

MST技術資料No.C0357
掲載日2014/10/02
測定法・加工法[XPS]X線光電子分光法
その他
製品分野電子部品
日用品
分析目的組成評価・同定
化学結合状態評価

概要

高分子フィルムの接着性や濡れ性といった特性を制御するにあたって、表面に存在する極性官能基を定量的に評価することは非常に重要です。XPSはこのような評価に最適ですが、ピーク位置が隣接していると、結合状態や官能基を切り分けて定量することが困難です。MSTでは化学修飾法を用いて特定の官能基のみを選択的に反応させた後にXPSにて定量することが可能です。ポリビニルアルコール(PVA)中の水酸基を無水トリフルオロ酢酸(TFAA)によって化学修飾して評価した事例を紹介します。

データ

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