レーザー顕微鏡による表面形状評価(B0283)

レーザー顕微鏡

レーザー顕微鏡測定(スペック)

  • 測定原理 : ピンホール共焦点光学系、フォーカスバリエーション
  •         特徴:対物レンズの合焦位置以外からの光を除去できる

  • 総合倍率 : ~28,800倍
  • 高さ測定 : 分解能 0.5nm
  •         測定精度 0.2+L / 100 μm 以下(20倍以上のレンズを使用した場合)
            ※L : 測定視野領域幅
            測定可能最大高低差:±3.5mm

  • 幅測定  : 分解能 1nm
  •         測定精度 測定値の±2%以内(20倍以上のレンズを使用した場合)

  • 最大積載量: 3 kg
  • 測定視野 : 最小 11 ×8.3 μm ~ 最大 7398 × 5545 μm

分析事例:IC チップの素子形状評価(データ)


■評価サンプル及び観察データ            ■解析一例(断面解析,面粗さ解析)

MST技術資料No.B0283
掲載日2022/06/09
測定法・加工法その他
製品分野LSI・メモリ
分析目的形状評価

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