樹脂中に存在している異物の評価(C0426)

試料の断面加工によりTOF-SIMSで樹脂中異物の評価が可能

MST技術資料No.C0426
掲載日2016/05/19
測定法・加工法[TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
製品分野製造装置・部品
分析目的組成評価・同定
組成分布評価

概要

樹脂中に存在する有機系の異物を評価する際、試料や分析の条件によってはそのままの状態での評価が困難な場合があります。そこで、樹脂を断面加工して異物を最表面に露出させることにより、評価が可能となった事例をご紹介します。
エポキシ系樹脂中に混入した数十μmの異物を断面加工により露出後、TOF-SIMSで評価しました。異物成分の同定と、分布状態の確認ができました。

データ

異物の評価方法

断面加工を行って異物を露出後、TOF-SIMS分析を行いました。

結果

異物の形状に対応して異物成分の分布が確認されております。異物はポリフェニレンサルファイド系樹脂(PPS)である可能性が推測されました。

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