リチウム二次電池負極表面の劣化評価(C0157)

大気暴露させずに前処理から測定・観察まで行います

MST技術資料No.C0157
掲載日2010/01/05
測定法・加工法[XPS]X線光電子分光法
[SEM]走査電子顕微鏡法
[SEM-EDX]エネルギー分散型X線分光法(SEM)
[(S)TEM](走査)透過電子顕微鏡法
[FIB]集束イオンビーム加工
雰囲気制御下での処理
製品分野二次電池
分析目的組成評価・同定
化学結合状態評価
形状評価

概要

容量低下が見られるリチウムイオン二次電池負極表面を大気暴露せずに評価した結果、100~200nm程度のCoを含む付着層が確認され、Coは金属状態であることがわかりました。
適用可能な手法
観察手法:FIB‐TEM, SEM
表面分析:SIMS,XPS,AES,TOF‐SIMS
その他構造評価等も可能です。

データ

リチウムイオン二次電池の基本構造

分析事例

関連する分析事例

イメージ 掲載日 タイトル 測定法・加工法 製品分野 分析目的
リチウムイオン二次電池負極の充放電サイクル試験後の劣化評価 2020/08/20 リチウムイオン二次電池負極の充放電サイクル試験後の劣化評価(C0194) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
雰囲気制御下での処理
二次電池
組成評価・同定
二次電池正極活物質の局所領域評価 2020/07/30 二次電池正極活物質の局所領域評価(C0614) [(S)TEM](走査)透過電子顕微鏡法
[TEM-EDX]エネルギー分散型X線分光法(TEM)
[TEM-EELS]電子エネルギー損失分光法
二次電池
化学結合状態評価
組成分布評価
構造評価
製品調査
X線小角散乱法によるAuナノ粒子の粒径解析 2020/07/30 X線小角散乱法によるAuナノ粒子の粒径解析(C0613) [(S)TEM](走査)透過電子顕微鏡法
[SAXS]X線小角散乱法
二次電池
燃料電池
化粧品
その他
形状評価
SEMI規格に準拠した ステンレス表面不動態膜の評価 2020/07/23 SEMI規格に準拠した ステンレス表面不動態膜の評価(C0612) [AES]オージェ電子分光法
[XPS]X線光電子分光法
その他
製造装置・部品
組成評価・同定
化学結合状態評価
組成分布評価
膜厚評価
Xe-PFIBを用いた広域断面のSEM観察 2020/07/16 Xe-PFIBを用いた広域断面のSEM観察(C0610) [SEM]走査電子顕微鏡法
X線CT法
[FIB]集束イオンビーム加工
LSI・メモリ
形状評価
構造評価
製品調査
Xe-プラズマFIBによる構造解析 2020/07/16 Xe-プラズマFIBによる構造解析(B0255) [SEM]走査電子顕微鏡法
[Slice&View]三次元SEM観察法
[EBSD]電子後方散乱回折法
[(S)TEM](走査)透過電子顕微鏡法
X線CT法
[FIB]集束イオンビーム加工
その他
LSI・メモリ
形状評価
構造評価
故障解析・不良解析
製品調査
二次電池正極活物質の総合評価 2020/07/09 二次電池正極活物質の総合評価(C0607) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
[ICP-MS]誘導結合プラズマ質量分析法
[SEM]走査電子顕微鏡法
[SEM-EDX]エネルギー分散型X線分光法(SEM)
[EBSD]電子後方散乱回折法
[(S)TEM](走査)透過電子顕微鏡法
[XRD]X線回折法
[SSRM]走査型広がり抵抗顕微鏡法
二次電池
組成評価・同定
化学結合状態評価
組成分布評価
形状評価
構造評価
製品調査
二次電池正極の抵抗値およびLiの分布評価 2020/07/09 二次電池正極の抵抗値およびLiの分布評価(C0606) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
[SEM]走査電子顕微鏡法
[SSRM]走査型広がり抵抗顕微鏡法
[IP法]Arイオン研磨加工
二次電池
組成分布評価
形状評価
製品調査
二次電池正極活物質の構造評価 2020/07/09 二次電池正極活物質の構造評価(C0605) [SEM]走査電子顕微鏡法
[EBSD]電子後方散乱回折法
[(S)TEM](走査)透過電子顕微鏡法
二次電池
形状評価
構造評価
製品調査
二次電池セパレータの構造評価 2020/07/09 二次電池セパレータの構造評価(C0604) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
[XPS]X線光電子分光法
[SEM]走査電子顕微鏡法
[FT-IR]フーリエ変換赤外分光法
二次電池
組成評価・同定
化学結合状態評価
組成分布評価
形状評価
構造評価
製品調査

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