白色LEDのフォトルミネッセンス分析(C0253)

白色LED中のチップ、蛍光体の発光特性の確認

MST技術資料No.C0253
掲載日2012/09/13
測定法・加工法[PL]フォトルミネッセンス法
[IP法]Arイオン研磨加工
その他
製品分野光デバイス
照明
分析目的構造評価
故障解析・不良解析
製品調査
その他

概要

白色LEDは長寿命・省エネルギーであるため、近年需要が照明用途を中心に急激に増加しています。
白色LEDは青色の半導体チップを電気によって発光させ、その発光によって周囲の蛍光体(主に黄色)を光らせることにより白色を演出しています。そのため、発光特性の向上や劣化原因の調査においては半導体チップ・蛍光体それぞれの発光特性の確認が必要です。
顕微フォトルミネッセンス(PL)装置は微小な領域を狙っての発光特性を確認することが可能です。

データ

今回は市販白色LEDを解体し半導体チップ・蛍光体それぞれの測定を行いました。

関連する分析事例

イメージ 掲載日 タイトル 測定法・加工法 製品分野 分析目的
Sn酸化物に対する還元処理の検証~XPSと計算シミュレーションの比較から~ 2019/02/07 Sn酸化物に対する還元処理の検証~XPSと計算シミュレーションの比較から~(C0544) [XPS]X線光電子分光法
その他
酸化物半導体
日用品
化学結合状態評価
その他
フコイダン食品規格基準の分析 2018/05/03 フコイダン食品規格基準の分析(C0516) [ICP-MS]誘導結合プラズマ質量分析法
[IC]イオンクロマトグラフ法
[HPLC]高速液体クロマトグラフ法
その他
食品
組成評価・同定
製品調査
安全性試験
X線吸収・発光分光によるバンド構造評価 2018/03/22 X線吸収・発光分光によるバンド構造評価(C0514) [XAFS]X線吸収微細構造
その他
LSI・メモリ
照明
酸化物半導体
その他
軟X線発光分光によるGaNの評価 2018/02/22 軟X線発光分光によるGaNの評価(C0511) [XAFS]X線吸収微細構造
その他
LSI・メモリ
照明
酸化物半導体
その他
TOF-SIMS・LC/MS/MSによる三次元培養ヒト皮膚を用いた経皮吸収評価 2017/11/23 TOF-SIMS・LC/MS/MSによる三次元培養ヒト皮膚を用いた経皮吸収評価(C0495) [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
[LC/MS]液体クロマトグラフィー質量分析法
クライオ加工
その他
バイオテクノロジ
医薬品
化粧品
組成分布評価
安全性試験
PL・TEMによるSiCパワーデバイスの結晶欠陥評価 2017/11/15 PL・TEMによるSiCパワーデバイスの結晶欠陥評価(C0494) [(S)TEM](走査)透過電子顕微鏡法
[PL]フォトルミネッセンス法
[FIB]集束イオンビーム加工
その他
パワーデバイス
構造評価
故障解析・不良解析
製品調査
Si系IGBTチップ断面の低温顕微PL分析 2017/09/14 Si系IGBTチップ断面の低温顕微PL分析(C0485) [PL]フォトルミネッセンス法
LSI・メモリ
パワーデバイス
電子部品
構造評価
故障解析・不良解析
製品調査
低温PL・SIMS分析によるSi基板に含まれる格子間型炭素の評価 2017/08/31 低温PL・SIMS分析によるSi基板に含まれる格子間型炭素の評価(C0481) [SIMS]二次イオン質量分析法
[PL]フォトルミネッセンス法
LSI・メモリ
パワーデバイス
電子部品
太陽電池
微量濃度評価
構造評価
故障解析・不良解析
石英・ガラス中の「水」の評価 2017/02/16 石英・ガラス中の「水」の評価(C0460) [SIMS]二次イオン質量分析法
その他
電子部品
ディスプレイ
微量濃度評価
劣化調査・信頼性評価
イオン注入及びアニール処理を行ったSiの低温フォトルミネッセンススペクトル 2016/07/28 イオン注入及びアニール処理を行ったSiの低温フォトルミネッセンススペクトル(C0434) [PL]フォトルミネッセンス法
LSI・メモリ
パワーデバイス
電子部品
太陽電池
構造評価
故障解析・不良解析

分析のご相談・お申し込み

知識豊富な営業担当が、最適な分析プランをご提案。
分析費用のお見積りもお気軽にお問い合わせください。
相談・お申し込みは、専用のフォームかお電話でどうぞ。

webからのお問い合わせはこちら

お問い合わせフォーム

お電話からのお問い合わせはこちら

ページトップへ

てむぞう&ますみん

てむぞう&ますみん