SiN膜中の金属汚染分析(C0465)
ICP-MSによる高感度分析
概要
Siウエハ上のSiN膜（Si3N4）を溶解した溶液中には、着目している不純物金属元素以外に膜由来のSiマトリックスが含まれています。そのため、溶解した溶液そのものでは精度よく高感度分析ができません。
そこで、Siウエハ上のSiN膜を溶解後、別途処理を施すことでSiマトリックスの影響なくSiN膜中不純物金属元素の分析を可能としました。市販品のSiN膜付きSiウエハを用いてICP-MSによる高感度分析を実施した事例を挙げます。
データ
市販品φ150mmSiウエハ上のSiN膜100nmを全溶解し、ICP-MSでSiN膜中の不純物金属元素を測定しました。
- Siウエハサイズはφ200mmまで対応可能です。
- Siウエハ上のSiO2膜中の金属元素も高感度分析が可能です。