プリント基板上有機物系異物の評価(C0080)

適切なサンプリングで異物周辺情報の影響を軽減

MST技術資料No.C0080
掲載日2010/11/25
測定法・加工法[Raman]ラマン分光法
製品分野電子部品
分析目的組成評価・同定

概要

ラマン分光分析は微小異物の定性分析に有効な手法です。異物の下地の情報も併せて検出してしまい評価が困難となる場合には、サンプリングを併用することにより測定が可能となります。
下地の影響のほとんど無い電極上異物はフラックスと同定されましたが、プリント基板上異物は異物由来の情報が取得できませんでした(図1)。下地の影響の無い無機結晶上にサンプリングを行うことで、異物の情報が得られ、異物はフラックスと同定されました(図2)。

データ

適用例

プリント基板上、カラーフィルター上のような下地の影響の強い異物の定性分析

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