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イメージ 掲載日 タイトル 測定法・加工法 製品分野 分析目的
ウェハ上パーティクルの組成分析 2025/06/12 ウェハ上パーティクルの組成分析(C0736) ［SEM-EDX］エネルギー分散型X線分光法（SEM）
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 組成評価・同定
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スズ(錫, Sn)表面の深さ方向状態評価 2025/06/12 スズ(錫, Sn)表面の深さ方向状態評価(C0735) ［TOF-SIMS］飛行時間型二次イオン質量分析法
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GCMC法によるMOF(金属有機構造体)へのCO2吸着シミュレーション 2025/06/12 GCMC法によるMOF(金属有機構造体)へのCO2吸着シミュレーション(C0734) 計算科学・AI・データ解析
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SIMSによるダイヤモンド評価事例 2025/05/29 SIMSによるダイヤモンド評価事例(C0733) ［SIMS］二次イオン質量分析法
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紙表面の定性分析及び成分の分布評価 2025/05/01 紙表面の定性分析及び成分の分布評価(C0731) ［TOF-SIMS］飛行時間型二次イオン質量分析法
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木質バイオマス中のセルロース・ヘミセルロース・リグニンの定量 2025/04/17 木質バイオマス中のセルロース・ヘミセルロース・リグニンの定量(B0308) ［UV-Vis］紫外可視分光法
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 組成評価・同定
ペロブスカイト太陽電池の発光解析 2025/04/17 ペロブスカイト太陽電池の発光解析(C0730) ［PL］フォトルミネッセンス法
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SiON極薄膜中の成分深さ方向分析 2025/04/10 SiON極薄膜中の成分深さ方向分析(C0264) ［TOF-SIMS］飛行時間型二次イオン質量分析法
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ヒアルロン酸の分子量分布の評価 2025/04/03 ヒアルロン酸の分子量分布の評価(C0729) その他
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